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AS7C31026B-20TCN 参数 Datasheet PDF下载

AS7C31026B-20TCN图片预览
型号: AS7C31026B-20TCN
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内容描述: 3.3 V 64K ×16的CMOS SRAM [3.3 V 64K X 16 CMOS SRAM]
分类和应用: 存储内存集成电路静态存储器光电二极管ISM频段
文件页数/大小: 10 页 / 123 K
品牌: ALSC [ ALLIANCE SEMICONDUCTOR CORPORATION ]
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AS7C31026B
®
AC测试条件
输出负载:见图B.
输入脉冲电平: GND为3.0 V.见图A.
输入上升和下降时间: 2纳秒。如图A所示。
输入和输出的定时参考水平: 1.5
戴维南等效:
168
D
OUT
+1.728 V
+3.3 V
320
+3.0 V
GND
D
OUT
90%
10%
2纳秒
90%
10%
255
C
13
图A :输入脉冲
GND
图B : 3.3 V输出负载
笔记
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13
在V
CC
电时,一个上拉电阻到V
CC
在CE上是为了满足我
SB
特定连接的阳离子。
这个参数进行采样,而不是100 %测试。
对于测试环境,请见
AC测试条件,
图A和B.
这些参数与C温度范围
L
= 5 pF的,如在图B.过渡是从稳态电压测量± 500毫伏。
此参数是保证,但未经测试。
WE为高的读周期。
CE和OE是低电平的读周期。
地址先于或重合与CE过渡低有效。
所有的读周期的时序被从最后一个有效地址到第一过渡地址引用。
不适用
所有的写周期的时序被从最后一个有效地址到第一过渡地址引用。
不适用。
C = 30 pF的,除非所有高Z和低Z参数,其中C = 5 pF的。
3/26/04, v 1.3
半导体联盟
10第7页