AS7C4098
AS7C34098
®
写波形3
10,11
t
WC
t
AH
t
WR
地址
t
AS
CE
t
AW
t
BW
LB ， UB
WE
数据
IN
数据
OUT
高Z
t
WZ
数据中，未定义
t
WP
t
DW
数据有效
t
DH
高Z
t
CW
AC测试条件
-
-
-
-
输出负载：见图B或C.图
输入脉冲电平： GND到3.0V 。如图A所示。
输入上升和下降时间： 2纳秒。如图A所示。
输入和输出的定时参考水平： 1.5V 。
+3.0V
GND
90%
10%
2纳秒
图A ：输入脉冲
90%
10%
戴维南等效：D
OUT
+5V
D
OUT
255Ω
480Ω
C
13
168Ω
+ 1.728V （ 5V和3.3V ）
+3.3V
320Ω
C
13
D
OUT
350Ω
GND
图B ： 5V输出负载
GND
图C ： 3.3V输出负载
笔记
1
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13
在V
CC
电时，一个上拉电阻到V
CC
在CE上是为了满足我
SB
特定连接的阳离子。
这个参数进行采样，而不是100 ％测试。
对于测试环境，请见
AC测试条件，
图A ，B ， C。
t
CLZ
和T
CHZ
用C指定
L
= 5pF的，如图C.转变是从稳态电压测量± 500mV的。
此参数是保证，但未经测试。
WE为高的读周期。
CE和OE是低电平的读周期。
地址有效之前或与CE过渡低相一致。
所有的读周期的时序被从最后一个有效地址到第一过渡地址引用。
CE或我们必须在高地址转换。 CE或WE断言高结束写周期。
所有的写周期的时序被从最后一个有效地址到第一过渡地址引用。
不适用。
C = 30pF的，除了在高Z和低Z参数，其中C = 5pF的。
1/13/05;
v.1.9
半导体联盟
10第7页
ALSC [ ALLIANCE SEMICONDUCTOR CORPORATION ]
