III 。鉴定试验质量要求
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2手AOZ8005CI高达168新品发布会小时B / I的。
2手包QUAL测试（ PCT ， 250次循环TC）的SOT- 23封装正式发布。
IV 。资格考试结果
测试项目
PRE-
空调
测试条件
每JESD 22 - A113
0
85 ℃/ 85％ RH， 3 CYC
0
回流焊@ 260℃
样本量
2手（ 82 /批次）
结果
通
评论
PKG 。 QUAL通过扩展使用AOZ8000C 。
地块1 （晶圆批号F162T.51-20 ，标记：
A02 ） ， 82单位，通过预处理。
地块2 （晶圆批号F162T.51-20 ，标记：
A03 ） ， 82单位，通过预处理。
PKG 。 QUAL通过扩展使用AOZ8000C 。
地块1 （晶圆批号F162T.51-20 ，标记：
A02 ） ， 80个单位，通过了500小时。
地块2 （晶圆批号F162T.51-20 ，标记：
A03 ） ， 80个单位，通过了500小时。
地块1 （晶圆批号FN2MT.01-12 ，标记：
AC001 ） ， 80个单位，通过了500小时。
地块2 （晶圆批号FN646.03-4标记：
AC003 ） ， 80个单位，通过了168小时。
PKG 。 QUAL通过扩展使用AOZ8000C 。
地块1 （晶圆批号F162T.51-20 ，标记：
A02 ） ， 60个单元，通过HAST 100小时。
地块2 （晶圆批号F162T.51-20 ，标记：
A03 ） ， 60个单元，通过HAST 100小时。
PKG 。 QUAL通过扩展使用AOZ8000C 。
地块1 （晶圆批号F162T.51-20 ，标记：
A02 ） ， 82单位，通过TC 500次。
地块2 （晶圆批号F162T.51-20 ，标记：
A03 ） ， 82单位，通过TC 500次。
PKG 。 QUAL通过扩展使用AOZ8000C 。
地块1 （晶圆批号F162T.51-20 ，标记：
A02 ） ， 82单位，通过PCT 96小时。
地块2 （晶圆批号F162T.51-20 ，标记：
A03 ） ， 82单位，通过PCT 96小时。
地块1 （晶圆批号FN646.03-4 ，标记：
AC003 ） ， 3家单位通过± 12kV的
地块1 （晶圆批号FN646.03-4 ，标记：
AC003 ） ， 3家单位通过具有±15kV
地块1 （晶圆批号FN646.03-4 ，标记：
AC003 ） ， 3家单位通过闩锁。
HTOL
（ PKG QUAL
残影）
每JESD 22 - A108_B
Vdd=6V
温度= 125
0
C
2手（ 80 /批次）
通
HTOL
（新UI_EPI
PROCESS ）
HAST
每JESD 22 - A108_B
Vdd=6V
温度= 125
0
C
2手（ 80 /批次）
通
'130 +/- 2
0
C， 85％RH ， 33.3
2手（ 60 /批次）
PSI ，在VCC电源分钟
Dissapation
通
温度
周期
'-65
0
C至+150
0
C，空气
空气（ 2cyc /小时）
2手（ 82 /批次）
通
压力罐
121C ， 15 +/- 1 PSIG ，
RH = 100％的
2手（ 82 /批次）
通
ESD额定值
ESD额定值
闭锁
符合IEC - 61000-4-2 ，
联系
符合IEC - 61000-4-2 ，空气
每JESD78A
3台
3台
3台
通
通
通
资格测试结果证实， AOZ8005CI通过AOS质量和可靠性
要求进行产品发布。
3
AOSMD [ ALPHA & OMEGA SEMICONDUCTORS ]
