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AS8ERLC128K32Q-250/XT 参数 Datasheet PDF下载

AS8ERLC128K32Q-250/XT图片预览
型号: AS8ERLC128K32Q-250/XT
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内容描述: 128K ×32的耐辐射EEPROM可作为军用规格 [128K x 32 Radiation Tolerant EEPROM AVAILABLE AS MILITARY SPECIFICATIONS]
分类和应用: 内存集成电路可编程只读存储器电动程控只读存储器电可擦编程只读存储器
文件页数/大小: 18 页 / 551 K
品牌: AUSTIN [ AUSTIN SEMICONDUCTOR ]
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初步
规范
奥斯汀半导体公司
符号
C
添加
C
OE
C
WE ,
C
CE
C
IO
参数
A0 - A16电容
OE \\ RES \\ , RDY电容
WE \\和CE \\电容
I / O 0〜 I / O容量31
最大
40
40
12
20
EEPROM
AS8ERLC128K32
电容表
1
(V
IN
= 0V , F = 1 MHz时,T
A
= 25
o
C, VCC = 3.3V )
单位
pF
pF
pF
pF
注意:
1.此参数是保证,但未经测试。
交流试验特性
测试规范
输入脉冲电平........................................... V
SS
到3V
输入上升和下降时间为5ns ...........................................
输入时序参考电平1.5V .................................
输出参考电平1.5V .........................................
输出负载................................................见图1
注意事项:
VZ的可编程范围为-2V至+ 5V 。
I
OL
OH
可编程从0到16毫安。
Vz的典型Ⅴ的中点
OH
和V
OL
.
I
OL
OH
被调整,以模拟典型的电阻性负载
电路。
电流源
I
OL
设备
TEST
-
+
+
VZ = 1.5V
(双极
SUPPLY )
CEFF = 50pF的
电流源
I
OH
图1
电气特性和推荐AC工作条件
(-55
o
Ç <牛逼
A
< 125
o
C或-40
o
C至+ 85
o
℃; VCC = 3.3V + 3.3V的)
描述
地址输出延迟
CE \\到输出延迟
OE \\到输出延迟
地址输出保持
CE \\或OE \\高输出的浮动( 1 )
RES \\低到输出的浮动( 1 )
RES \\到输出延迟
AS8ERLC128K32
修订版1.9 06/06
测试条件
CE \\ OE ​​= \\ = V
IL
我们\\ = V
IH
OE \\ = V
IL
我们\\ = V
IH
OE \\ = V
IL
我们\\ = V
IH
CE \\ OE ​​= \\ = V
IL
我们\\ = V
IH
OE \\ = V
IL
我们\\ = V
IH
CE \\ OE ​​= \\ = V
IL
我们\\ = V
IH
CE \\ OE ​​= \\ = V
IL
我们\\ = V
IH
4
-250
符号最小值最大值
t
250
t
CE
t
OE
t
OH
t
DF
t
DFR
t
RR
10
0
0
0
0
50
350
600
250
120
-300
最小值最大值单位
300
ns
300
10
0
0
0
0
50
350
600
130
ns
ns
ns
ns
ns
ns
奥斯汀半导体公司保留更改产品或规格,恕不另行通知。