HEDS -5500 ， HEDS- 6500和HEDS -9000 ， 9100 ， 9200系列
运动传感产品，光电编码器模块
可靠性数据
描述
下面的累积的测试结果已得到
从与符合进行测试，在安华高科技
ANCE与MIL-STD - 883的最新版本。
安华在绝对最大额定CON-测试部分
ditions推荐用于该设备。实际per-
formance你Avago的部分获得依赖于
您的AP-电气和环境特征
折襞但可能会比perform-更好
ANCE表列出？
故障率预测
半导体器件的故障率被确定
通过该装置的结温。的关系
环境温度和实际之间的交界处船舶
温度由下式给出如下：
T
J
（ ° C） = T
A
(°C) +
θ
JA
P
AVG
哪里
T
A
=环境温度（℃）
θ
JA
=热敏电阻
结点到环境中℃/瓦
P
AVG
=平均耗散功率（瓦）
估计平均无故障时间和故障率在温度
比实际应力的温度下，可以决定
通过使用阿伦尼乌斯模型下开采AC-
减速来识别。这种计算的结果示于
表使用的活化能下页
0.43电子伏特（参照MIL - HDBK - 2 ？ 7 ） 。
表1.寿命试验
性能展示
点典型性能
测试名称
高温
工作寿命
压力测试
条件
V
CC
= 5.5 V,
V
A
= V
B
= 3.5 V
T
A
= 00°C
？ 000小时
V
CC
= 5.5 V
V
A
= V
B
= 3.5 V
？万小时
T
A
= 85°C
RH = 85 ％
总
设备小时。
,405,000
单位
经过测试
,405
总
失败
2
MTBF
702,500
故障率
（ ％ / 1K小时）
0.42
温度
湿度
工作寿命
,495,000
,495
0
49,500
0.669
AVAGO [ AVAGO TECHNOLOGIES LIMITED ]
