C0G （ NP0 ）电介质
规格和测试方法
参数/测试
工作温度范围
电容
Q
绝缘电阻
介电强度
NP0规格限制
-55℃至+ 125℃
在特定网络版公差
<30 PF： Q≥ 400 + 20×股价值
≥30 PF： Q≥ 1000
100,000MΩ或1000MΩ - μF ，
以较低者为准
无击穿或视觉缺损
测量条件
温度循环室
频率： 1.0 MHz的± 10 ％的上限≤1000 pF的
1.0千赫±10％的上限> 1000 pF的
电压： 1.0Vrms ± .2V
充电设备的额定电压
60 ± 5秒@室内温度/湿度
充电装置，用300 ％的额定电压的供
1-5秒，瓦特/充电和放电电流
限定到50mA （最大）
注：为额定150 ％充电装置
电压为500V的设备。
变形：2毫米
测试时间：30秒
1mm/sec
耐
曲
讲
外形
电容
变异
Q
绝缘
阻力
无缺陷
± 5 ％或± 0.5 pF的，以较高者为准
满足初始值（如上面）
≥初始值×0.3
每个终端≥ 95％应覆盖
用新鲜的焊锡
无缺陷，两端端子<25浸出％
≤± 2.5 ％或± 0.25 pF的，以较高者为准
满足初始值（如上面）
满足初始值（如上面）
满足初始值（如上面）
没有视觉缺陷
≤± 2.5 ％或± 0.25 pF的，以较高者为准
满足初始值（如上面）
满足初始值（如上面）
满足初始值（如上面）
没有视觉缺陷
≤± 3.0 ％或± 0.3 pF的，以较高者为准
≥ 30 pF的：
≥10 PF， <30 PF：
<10 PF：
Q≥ 350
Q≥ + 275 ℃/ 2
Q≥ 200 + 10℃
90 mm
可焊性
外形
电容
变异
耐
焊锡热
Q
绝缘
阻力
电介质
实力
外形
电容
变异
Q
绝缘
阻力
电介质
实力
外形
电容
变异
Q
（C =额定章）
绝缘
阻力
电介质
实力
外形
电容
变异
负载
湿度
Q
绝缘
阻力
电介质
实力
浸在共晶焊料在230 ± 5℃的设备
为5.0 ± 0.5秒
在共晶焊料在260℃进行60 DIP设备
秒。储存在室温24±2
测量电气性能之前小时。
第1步： -55℃ ± 2°
第2步：房间温度
步骤3 ： + 125℃ ± 2°
步骤4：房间温度
30± 3分钟
≤ 3分钟
30± 3分钟
≤ 3分钟
热
震
重复5次和措施后，
在室温下24小时
负载寿命
充电设备与二次额定电压
试验室设在125℃ ± 2℃
1000小时（ 48 ， -0 ） 。
从试验容器中取出，并稳定在
室温下进行24小时
前测。
≥初始值×0.3 （见上文）
满足初始值（如上面）
没有视觉缺陷
≤± 5.0 ％或± 0.5 pF的，以较高者为准
≥ 30 pF的：
≥10 PF， <30 PF：
<10 PF：
Q≥ 350
Q≥ + 275 ℃/ 2
Q≥ 200 + 10℃
存放在试验室设在85℃ ± 2℃ /
1000小时85 ％±5％相对湿度
（ 48 ， -0 ）额定电压应用。
从室中取出，并稳定在
室温下放置24±2小时
前测。
≥初始值×0.3 （见上文）
满足初始值（如上面）
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AVX [ AVX CORPORATION ]
