佰鸿电子股份有限公司。
自1981年以来
BL-HKB33A-TRB
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可靠性测试
分类
测试项目
参考标准
测试条件
结果
使用寿命MIL -STD -750 ： 1026
MIL -STD- 883 ： 1005
JIS-C-7021
:B-1
高
温度MIL- STD- 202 ： 103B
高湿度JIS -C- 7021
:B-11
耐力
存储
TEST
高
MIL -STD- 883 ： 1008
温度
JIS-C-7021
:B-10
存储
低
:B-12
温度JIS -C- 7021
存储
温度MIL- STD- 202 ： 107D
循环
MIL- STD- 750 ： 1051
MIL -STD- 883 ： 1010
JIS-C-7021
:A-4
热冲击测试MIL -STD- 202 ： 107D
环境的
MIL- STD- 750 ： 1051
TEST
MIL -STD- 883 ： 1011
SOLDER
MIL- STD- 202 ： 201A
阻力
MIL- STD- 750 ： 2031
JIS-C-7021
:A-1
连接有电源如果= 20mA下
TA =在室温
测试时间= 1,000hrs
Ta=+65℃±5℃
RH=90%-95%
测试时间= 240hrs
高的Ta = + 85 ℃±5℃
测试时间= 1,000hrs
低的Ta = -35 ℃±5℃
测试时间= 1,000hrs
-35℃ ~ +25℃ ~ +85℃ ~ +25℃
60分钟20分钟
60min
20min
测试时间= 5cycle
-35℃±5℃ ~+85℃±5℃
20min
20min
测试时间= 10cycle
预热：
140 ℃-160℃ ，在2分钟内。
操作加热：
235 ℃ （最大） ， 10秒内。 （最大值）。
0/20
0/20
0/20
0/20
0/20
0/20
0/20
●
故障的可靠性判定标准
测量项目
正向电压
反向电流
发光强度
符号
V
F
( V)
I
R
（ UA）
IV（ MCD ）
测量条件
I
F
=20mA
V
R
=5V
I
F
=20mA
判断标准为失败
在Ux1.2
在UX2
下面SX0.5
注意：
1.U装置的指定特征的上限。
S表示初始值。
2.Measurment应至2小时，并在试验片已返回到后采取
每次试验结束后，在正常环境条件。
1.0版本第5 7
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