数据表
6/11
6.可靠性
测试(1 )详细
测试项目
测试条件
TA = 25℃ ,我
F
= 480毫安×1000小时(以铝翅片)
连续运行测试
TA = 50℃ ,我
F
= 480毫安×1000小时(以铝翅片)
防潮测试
热冲击试验
60℃, 90%RH下1000小时
-40℃ ×30分钟 - 100℃ ×30分钟, 100周期
高温储存试验
100℃ ×千小时
低温存储测试
-40℃ ×千小时
失败的( 2)可靠性测试判定标准
总光通量
正向电压
测量项目
符号
Φv
V
F
测量条件
I
F
=480mA
I
F
=480mA
对故障的判断标准
( TA = 25℃ )
> ú × 1.1
< S× 0.85
ü定义的规定的特性的上限值。 s定义为初始值。
注意:测量应取2个小时和24小时之间,并且试验片应
在完成每个测试后返回到正常的环境条件。
CL- L251 - MC4L可靠性试验的结果将用于CL- L251 - MC4W1 -C上。
符号
名字
CITIZEN ELECTRONICS CO 。 , LTD 。 JAPAN
CL-L251-MC4W1-C
CITILED
Ref.CE - P1162 05/11 R1 ( 0711 )