欢迎访问ic37.com |
会员登录 免费注册
发布采购

BT8375 参数 Datasheet PDF下载

BT8375图片预览
型号: BT8375
PDF下载: 下载PDF文件 查看货源
内容描述: 单芯片收发器T1 / E1和综合业务数字网( ISDN )基本速率接口 [single chip transceivers for T1/E1 and Integrated Service Digital Network (ISDN) primary rate interfaces]
分类和应用: 综合业务数字网
文件页数/大小: 323 页 / 1950 K
品牌: CONEXANT [ CONEXANT SYSTEMS, INC ]
 浏览型号BT8375的Datasheet PDF文件第224页浏览型号BT8375的Datasheet PDF文件第225页浏览型号BT8375的Datasheet PDF文件第226页浏览型号BT8375的Datasheet PDF文件第227页浏览型号BT8375的Datasheet PDF文件第229页浏览型号BT8375的Datasheet PDF文件第230页浏览型号BT8375的Datasheet PDF文件第231页浏览型号BT8375的Datasheet PDF文件第232页  
Bt8370/8375/8376
3.16数据链路寄存器
完全集成的T1 / E1成帧器和线路接口
0BA , DLINK测试配置( DL_TEST1 )
数据链路测试寄存器[地址0BA - 0BE ]是CONEXANT生产测试。设置为0表示正常运行。
7
6
5
4
3
DL_TEST1[3]
2
DL_TEST1[2]
1
DL_TEST1[1]
0
DL_TEST1[0]
DL_TEST1[3]
时钟试验零以进行正常操作,其中,时钟由DL1_CTL和控制
DL2_CTL [地址0A6 , 0B1 ] 。当高电平有效,时钟被启用。
暗影选择-报告影子指针而不是正常的读/写指针。
FIFO的选择: 00 = RDL1 ; 01 = RDL2 ; 10 = TDL1 ; 11 = TDL2
DL_TEST1[2]
DL_TEST1 [ 1,0 ]
0BB , DLINK测试状态( DL_TEST2 )
7
6
5
DL_TEST2[5]
4
DL_TEST2[4]
3
DL_TEST2[3]
2
DL_TEST2[2]
1
DL_TEST2[1]
0
DL_TEST2[0]
DL_TEST2 [5:0 ]
阅读或阴影读指针,报告选择FIFO读指针当前地址。
0BC , DLINK测试状态( DL_TEST3 )
7
6
5
DL_TEST3[5]
4
DL_TEST3[4]
3
DL_TEST3[3]
2
DL_TEST3[2]
1
DL_TEST3[1]
0
DL_TEST3[0]
DL_TEST3 [5:0 ]
写或影写指针 - 指定选定FIFO写指针地址。
0BD , DLINK测试控制# 1或配置# 2 ( DL_TEST4 )
7
6
DL_TEST4[6]
5
DL_TEST4[5]
4
DL_TEST4[4]
3
DL_TEST4[3]
2
DL_TEST4[2]
1
DL_TEST4[1]
0
DL_TEST4[0]
DL_TEST4[6]
DL_TEST4[5]
DL_TEST4[4]
DL_TEST4[3]
DL_TEST4[2]
DL_TEST4[1]
DL_TEST4[0]
TFIFO1阅读明文强制发送FIFO读指针为空。
TFIFO1写清-Force的发送FIFO的写指针为空。
TFIFO1写MPU的数据去指定的写指针地址。
RFIFO1阅读明文强制接收FIFO读指针为空状态(齐平) 。
RFIFO1要写清楚,强制接收FIFO写指针为空状态(齐平) 。
RFIFO1写MPU的数据去指定的写指针地址。
RFIFO1旁通管件接收数据。
3-110
科胜讯
N8370DSE