CYS
泰克
Iz
10
μ
F
+
CYStech电子股份有限公司
测试电路稳定性
R
规格。编号: C504A3
发行日期: 2003年3月21日
修订日期:
页页次: 7/9
测试电路,小信号增益和相位
OUT
Iz
15k
PL432
232
PL432
R1
CL
R2
8.25k
GND
应用信息 - 稳定性
当使用PL432作为分路调节选择的负载电容的
当PL432用作分流调节器,有两个选项供选择的C
L
(请参见第6页上的图)
被推荐为最佳的稳定性:
1)在器件无负载电容去耦的负载。
2)大容量器件两端,在所述负载的最佳去耦。
这样做的原因是, PL432呈现不稳定性的电容中的10nF的至1μF的范围
在灯阴极电流(约) (最多3毫安典型值)。该装置是不太稳定的低的阴极
电压已设置。因此,当所述设备将是完全稳定的,在阴极工作
(比如说) 10毫安横跨这一个0.1μF的电容电流,它会在启动过程中的短暂振荡
阴极电流通过不稳定区域。选择一个非常低的(或优选地,无)电容
tance ,或者一个高电容(比如10μF )将完全避免了这个问题。由于用户
可能会希望有地方去耦在负载无论如何,最经济有效的方法就是使用
没有任何电容都直接穿过设备。 PCB走线/通过电阻和电感阻止
本地负载从在过渡开始阶段使所述振荡解耦。
注意:如果PL432坐落在负载,所以负载去耦电容是直接穿过它,然后
该电容器将必须是
≤1nF
or
≥10μF.
PL432XA3/N3
CYStek产品规格