DS1040
t
上升
（输入上升时间） ：
的20％，在前缘80％的点之间所经过的时间
输入脉冲。
t
秋天
（输入下降时间） ：
的80 ％ ，而位于该后缘的20％点之间所经过的时间
输入脉冲。
t
D
（固有延迟） ：
在输入触发的前缘的1.5点之间所经过的时间
脉冲和输出脉冲的前沿的1.5V点。
t
PU
（开机时间） ：
经过V
CC
是有效的，定时规范之前所需要的时间是内
耐受性。
测试设置说明
图4示出用于测量在DS1040的定时参数的硬件配置。
输入波形是通过在软件控制下一个精确的脉冲发生器产生的。内在
延迟是由连接在所述输入端和每个之间的时间间隔计数器（20 ps分辨率）测定
输出。输出被选择并连接到由甚高频开关控制单元中的计数器。宽度
测量是通过将两者的启动和停止的计数器的作用是相同的输出取得。
所有测量均完全自动化，由中央计算机通过一个控制的每个仪器
IEEE 488总线。
测试条件
输入：
环境温度：
电源电压（V
CC
):
输入脉冲：
源阻抗：
上升和下降时间：
脉冲宽度：
期限：
25°C + 3°C
5.0V + 0.1V
高= 3.0V + 0.1V
低= 0.0V + 0.1
50欧姆最大。
3.0 ns（最大值） 。 （测
0.6V和2.4之间）
500纳秒（ 1
µs
对于-500 ）
1
µs
(2
µs
对于-500 ）
输出：
的输出被加载有74F04 。延迟的测量是在上升沿和下降沿的1.5V电平。
注意：
以上条件仅用于测试，并且不限制该装置的下其它数据表中的操作
条件。
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DALLAS [ DALLAS SEMICONDUCTOR ]
