DS1100
术语
期限：
第一脉冲的前沿和的前缘之间所经过的时间
下面的脉搏。
t
WI
（脉冲宽度） ：
经过时间上的1.5V点之间的脉冲对所述前缘和
在后缘，或后缘的1.5V点和主导的1.5V点1.5V点
边缘。
t
上升
（输入上升时间） ：
的20％ ，而位于该前边缘的80％的点之间所经过的时间
输入脉冲。
t
秋天
（输入下降时间） ：
的80 ％ ，而位于该后缘的20％点之间所经过的时间
输入脉冲。
t
PLH
（时间延迟，瑞星） ：
对输入的前缘的1.5V点之间所经过的时间
脉冲和任何抽头输出脉冲的前沿的1.5V点。
t
PHL
（延时，下降） ：
对输入的后沿的1.5V点之间所经过的时间
脉冲和任何抽头输出脉冲的后沿的1.5V点。
测试设置说明
图3示出用于测量在DS1100的定时参数的硬件配置。
输入波形是通过在软件控制下一个精确的脉冲发生器产生的。时间延迟是
通过连接在输入端和各个抽头之间的时间间隔计数器（ 20ps的分辨率）进行测定。每一个水龙头
被选择并连接到由甚高频开关控制单元中的计数器。所有测量都是完全
自动化的，由中央计算机通过IEEE 488总线控制每种乐器。
测试条件输入：
环境温度：
电源电压（V
CC
):
输入脉冲：
源阻抗：
上升和下降时间：
脉冲宽度：
期限：
+25°C ±3°C
5.0V ±0.1V
高= 3.0V ± 0.1V
低= 0.0V ± 0.1V
最高50W
3.0ns最大（ 0.6V与2.4V之间测量）
为500ns （ 1μs的为-500版）
为1μs （为2μs的-500版）
输出：
每个输出被加载有一个74F04输入栅极的等效。延迟测量的1.5V电平
的上升沿和下降沿。
注意：
以上条件仅用于测试，并且不限制该装置的下其它数据表中的操作
条件。
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DALLAS [ DALLAS SEMICONDUCTOR ]
