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EDE1108AEBG-6E-F 参数 Datasheet PDF下载

EDE1108AEBG-6E-F图片预览
型号: EDE1108AEBG-6E-F
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内容描述: 1G位DDR2 SDRAM [1G bits DDR2 SDRAM]
分类和应用: 存储内存集成电路动态存储器双倍数据速率时钟
文件页数/大小: 78 页 / 623 K
品牌: ELPIDA [ ELPIDA MEMORY ]
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EDE1108AEBG , EDE1116AEBG
ODT DC电气特性( TC = 0 ° C至+ 85°C , VDD和VDDQ = 1.8V
±
0.1V)
参数
RTT的EMRS ( A6 , A2)的有效阻抗值
=
0, 1; 75
Ω
RTT的EMRS ( A6 , A2)的有效阻抗值
=
1, 0; 150
Ω
RTT的EMRS ( A6 , A2)的有效阻抗值
=
1, 1; 50
Ω
VM的偏差相对于VDDQ / 2
符号
RTT1 ( EFF )
RTT2 ( EFF )
Rtt3 ( EFF )
'vm
分钟。
60
120
40
−6
典型值。
75
150
50
马克斯。
90
180
60
+6
单位
Ω
Ω
Ω
%
1
1
1
1
注: RTT测量1.测试条件。
对于RTT测量定义( EFF )
应用VIH ( AC)和VIL ( AC)分别测试引脚,然后分别为I( VIH ( AC) )和I( VIL ( AC ) )测量电流。
在SSTL_18定义的VIH( AC)和VDDQ的值。
RTT
(
EFF
)
=
VIH
(
AC
)
VIL
(
AC
)
I
(
VIH
(
AC
))
I
(
VIL
(
AC
))
测量定义为
'vm
测量电压( VM)在测试引脚(中点)无负载。
2
×
VM
- 1
×
100
Δ
VM
=
VDDQ
OCD默认特性( TC = 0 ° C至+ 85°C , VDD , VDDQ = 1.8V
±
0.1V)
参数
输出阻抗
上拉和下拉不匹配
输出压摆率
分钟。
12.6
0
1.5
典型值。
18
马克斯。
23.4
4
5
单位
Ω
Ω
V / ns的
笔记
1, 5
1, 2
3, 4
注:输出源的直流电流1.阻抗测量条件: VDDQ = 1.7V ; VOUT = 1420mV ;
( VOUT - VDDQ ) / IOH必须​​大于23.4Ω少了VOUT的VDDQ和VDDQ - 280MV之间的值。
输出阻抗测量条件下沉直流电流: VDDQ = 1.7V ; VOUT = 280MV ;
VOUT / IOL必须为VOUT的0V和280MV之间的值小于23.4Ω 。
2.不匹配是拉和下拉的绝对值,无论是在相同的温度测量
电压。
3.压摆率从VIL ( AC)测量到VIH ( AC) 。
4.摆率作为从直流测量到直流的绝对值等于或大于所述压摆率
从AC测量交流。这是通过设计和特性保证。
五是DRAM I / O规范的时序,电压和压摆率不再适用,如果OCD改变
从默认设置。
初步数据表E1228E20 (版本2.0 )
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