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EN25B05-50VI 参数 Datasheet PDF下载

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型号: EN25B05-50VI
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内容描述: 512 Kbit的串行闪存与引导和参数部门 [512 Kbit Serial Flash Memory with Boot and Parameter Sectors]
分类和应用: 闪存存储
文件页数/大小: 30 页 / 386 K
品牌: EON [ EON SILICON SOLUTION INC. ]
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EN25B05
说明
所有指令,地址和数据移入和移出器件,最显著位第一。串行
数据输入( DI )进行采样,在串行时钟( CLK )的片选信号( CS # )被驱动后的第一个上升沿
低。然后,将1字节的指令代码必须被移位到该设备,最显著位第一,上
串行数据输入(DI),每个位被锁存串行时钟(CLK )的上升沿。
该指令集被列于表4中的每个指令序列开始的一个字节的指令代码。
根据不同的指令,这随后可能是地址字节,或由数据字节,或由两者或
没有。片选(CS # )必须被驱动为高电平后的指令序列的最后一位被移位
英寸在读数据字节的情况下(READ ) ,读数据字节以更高的速度( FAST_READ ) ,读
状态寄存器( RDSR)或者从深度掉电释放,读取设备ID ( RDI )指令,
移式指令序列之后是一个数据输出序列。片选信号( CS # ),可驱动高
后的数据输出序列中的任何位被移出。
在一个页面编程( PP ) ,扇区擦除( SE ) ,批量擦除( BE )的情况下,写状态寄存器( WRSR )
写使能( WREN ) ,写禁止( WRDI )或深度掉电( DP )的指令,片选( CS # )
必须驱动的高准确地在一个字节边界,否则该指令被拒绝,并且不被执行。
也就是说,片选( CS # )必须驱动为高电平时,时钟脉冲的片选信号(CS # )后的数字
驱动为低电平是8的整数倍。
所有试图在写状态寄存器周期,项目周期或擦除访问的存储阵列
周期被忽略,内部写状态寄存器周期,项目周期或擦除周期继续
不受影响。
表4.指令集
指令名称
写使能
写禁止
阅读状态
注册
写状态
注册
读数据
快读
页编程
扇区擦除
批量擦除
深度掉电
释放由深
掉电,并且
读取设备ID
释放由深
掉电
制造商/
器件ID
阅读鉴定
1个字节
CODE
06h
04h
05h
01h
03h
0Bh
02h
D8h
C7h
B9h
(4)
DUMMY
DUMMY
DUMMY
(ID7-ID0)
(S7-S0)(1)
S7-S0
A23-A16
A23-A16
A23-A16
A23-A16
A15-A8
A15-A8
A15-A8
A15-A8
A7-A0
A7-A0
A7-A0
A7-A0
(D7-D0)
DUMMY
D7-D0
(下一字节)
(D7-D0)
(下一字节)
连续
(下一字节)
连续
连续
连续
(2)
2字节
BYTE 3
4个字节
BYTE 5
6字节
正字节
ABH
90h
9Fh
DUMMY
(M7-M0)
DUMMY
(ID15-ID8)
00h
(ID7-ID0)
(M7-M0)
(ID7-ID0)
(5)
注意事项:
1.数据的字节偏移与最高有效位。在括号中数据字节的字段“()”表示数据被读取
在DO引脚的器件。
2.状态寄存器的内容将不断重复,直到CS #终止指令。
3.所有部门可能在行业内使用的任何地址。
4.设备ID将不断重复,直到CS #终止指令。
5.制造商ID和设备ID字节将不断重复,直到CS #终止指令。
该数据表可以通过后续的版本中修改
或修改,由于改变的技术规格。
8
©2004宙硅解决方案公司, www.essi.com.tw
版本B ,发行日期: 2006年12月26日