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EN25F16-100HI 参数 Datasheet PDF下载

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型号: EN25F16-100HI
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内容描述: 16兆位串行闪存与4KB的扇区制服 [16 Megabit Serial Flash Memory with 4Kbytes Uniform Sector]
分类和应用: 闪存
文件页数/大小: 35 页 / 456 K
品牌: EON [ EON SILICON SOLUTION INC. ]
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EN25F16
操作特性
SPI模式
该EN25F16通过一个SPI兼容总线组成的四个信号访问:串行时钟
( CLK ) ,片选信号( CS # ) ,串行数据输入( DI )和串行数据输出( DO ) 。两个SPI总线
操作模式0 ( 0,0)和3 ( 1,1)的支持。模式0和之间的主要区别
模式3中,如图3所示,是关于在CLK信号的SPI总线时的正常状态
主站是在待机和数据不被传输到串行闪存。对于模式0 CLK信号
通常很低。模式3 CLK信号通常较高。在这两种情况下,数据输入的DI引脚
采样在CLK的上升沿。在DO引脚的数据输出同步输出下降沿
的CLK 。
图3. SPI模式
网页编程
以编程一个数据字节时,两条指令必须:写使能(WREN ),这是一个字节,
和一个页编程(PP)的序列,它由4个字节加上数据。这之后是
内部编程周期的持续时间T (
PP
).
为了传播这种开销,页面编程( PP )指令允许最多256个字节是亲
编程的时间(改变位从1变为0 ) ,只要它们存在于连续的地址上
相同的内存页。
扇区擦除,块擦除和芯片擦除
在页编程(PP)的指令允许位被从1重置为0。在此之前可以应用
内存的字节必须被擦除,以全1 ( FFH ) 。这可以在一个可以实现的扇区
时间,使用的扇区擦除( SE )指令,一次一个块使用块擦除( BE )
指令或者整个内存,使用芯片擦除( CE )指令。这将启动
内部擦除周期的持续时间T (
SE
t
BE
或T
CE
) 。 ERASE指令前必须有一个写
使能(WREN )指令。
投票在写,编程或擦除周期
在写状态寄存器( WRSR ) ,计划( PP )或删除( SE时间的进一步改进, BE
或CE )可以通过不等待最坏情况下的延迟(T实现
W
, t
PP
, t
SE
, t
BE
或T
CE
) 。写在
制品(WIP )位设置在状态寄存器,以使应用程序可以监视其
值,轮询它建立在以前的写周期,项目周期或擦除周期完成。
有源电力,待机功耗和深度掉电模式
当片选( CS # )为低电平时,器件处于启用状态,在有源模式。当片
选(CS # )为高电平时,设备被禁用,但可以留在有源模式下,直到所有
内部时钟周期完成(编程,擦除,写状态寄存器) 。然后将设备进入
在待机功耗模式。该器件消耗下降至我
CC1
.
深度掉电模式时输入特定的指令(在进入深度掉电
模式(DP)的指令)被执行。该器件消耗进一步下降到我
CC2
。该设备重
电源在此模式下,直到另一个特定的指令(发布从深度掉电模式和
读取设备ID ( RDI )的指令)执行。
该数据表可以通过后续的版本中修改
或修改,由于改变的技术规格。
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©2004宙硅解决方案公司, www.essi.com.tw
版本C ,发行日期: 2008年6月23日