存储器映射
表2-2 。引导模式跳向量（续）
地址
00EB
00EE
00F1
00F4
00F7
00FA
00FD
BF00 （引导）
实时中断
IRQ
XIRQ
SWI
非法操作码
COP FAIL
时钟监控器
RESET
向量
2.2.4测试模式
这种特殊的扩展模式的主要目的还是生产测试。用户可以访问一个数
专用测试控制位在此模式。复位和中断向量的位置，从外部获取
$ BFC0- $ BFFF 。交换机可以从该模式中，以程序的控制下的其他方式进行。
2.3存储器映射
示出存储器映射为正常的操作（单芯片模式和
扩展复用） ，还有两个特殊的操作模式（引导程序和检验）。
•在单芯片模式下，MCU不会产生外部地址。内部存储器
位置如图中的阴影区域，并且这些阴影区域的内容被解释
在右边的图中。
•在扩展复用模式中，存储器位置是基本相同的单芯片
所不同的是阴影区域之间的存储器位置，用于从外部寻址模式
内存和I / O 。
•特殊的引导方式是类似的单芯片模式下，除了将引导程序
ROM是位于存储位置$ BF00- $ BFFF ，载体包括在内。
•特殊的测试模式是类似于扩展复用模式以外的中断向量
在外部存储单元。
2.3.1控制和状态寄存器
是所有64个字节的控制和状态寄存器， I / O和数据寄存器的表示，并
保留位置构成的内部寄存器块。该块可以被映射到任何
在内存4 -K的边界，但重置其定位在$ 0000- $ 003F 。这mappability因子和默认
首发地址通过使用一个大胆的表示
0
作为寄存器地址的起始字符。
MC68HC711D3数据手册，第2.1
飞思卡尔半导体公司
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