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MBM29LV160T-90PFTN 参数 Datasheet PDF下载

MBM29LV160T-90PFTN图片预览
型号: MBM29LV160T-90PFTN
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内容描述: 16M ( 2M xⅴ 8 / 1M ×16 )位 [16M (2M xⅴ 8/1M x 16) BIT]
分类和应用: 闪存存储内存集成电路光电二极管
文件页数/大小: 60 页 / 732 K
品牌: FUJITSU [ FUJITSU COMPONENT LIMITED. ]
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MBM29LV160T
-80/-90/-12
/MBM29LV160B
-80/-90/-12
s
概述
该MBM29LV160T / B是16M位, 3.0 V-仅限Flash组织为每个或1M字8位2M字节的内存
的每个16比特。该MBM29LV160T / B提供了48针TSOP ( I) , 46引脚SON , 48引脚南方东英和48球
FBGA封装。该设备被设计成在系统编程与标准体系3.0 VV
CC
供应量。
12.0 V V
PP
和5.0 V V
CC
不需要用于写入或擦除操作。该装置还可以重新编程
在标准EPROM编程器。
标准MBM29LV160T / B提供了80纳秒到120纳秒访问时间,高速运转使
微处理器无需等待。为了消除总线争用的设备都有单独的芯片使能( CE ),写
使能(WE )和输出使能(OE )控制。
该MBM29LV160T / B引脚和指令集兼容JEDEC标准E
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PROM中。命令
写入到使用标准的微处理器写定时的命令寄存器。寄存器的内容作为输入
到内部的状态机,它控制了擦除和编程电路。写周期内部也
锁存的地址和所需要的编程数据和擦除操作。读出数据的设备是
类似于从5.0 V至12.0 V Flash或EPROM器件读取。
该MBM29LV160T / B是通过执行程序命令序列编程。这将调用
嵌入式程序算法是一个内部算法,可以自动次编程脉冲宽度
并验证正确的单元格边距。典型地,每个扇区可以被编程,并在大约0.5秒验证。
擦除是通过执行擦除命令序列来实现。这将调用嵌入式擦除
算法,它是一个内部算法,可以自动preprograms阵列如果它尚未被编程的
前执行擦除操作。在擦除时,自动装置倍擦除脉冲宽度和
验证正确的单元格边距。
个别部门通常擦除和1.0秒验证。 (如果已预编程。 )
该器件还具有一个扇区擦除架构。该行业模式允许每个扇区进行擦除和
重新编程,而不会影响其他部门。从工厂发货时MBM29LV160T / B被擦除。
该器件具有用于读取和写入功能单一的3.0 V电源工作。内部产生
并且提供了用于所述程序稳压电压和擦除操作。低V
CC
自动探测器
禁止写入功率的损耗操作。编程或擦除的结束是由DQ的数据轮询检测
7
,
通过对DQ的触发位功能
6
或RY / BY输出引脚。一旦一个程序或擦除周期结束时一直
comleted ,装置内部复位到读模式。
该MBM29LV160T / B也有一个硬件复位引脚。当该引脚为低电平,执行任何嵌入式
程序算法或嵌入式擦除算法终止。内部状态机,然后重置为
阅读模式。 RESET引脚可连接到系统复位电路。因此,如果在系统复位时
嵌入式程序算法或嵌入式擦除算法,该装置自动复位到读
模式和将存储在所述地址位置被编程或擦除的错误数据。这些位置
需要重写复位后。复位装置使系统的微处理器读取引导向上
固件从闪存中。
富士通的闪存技术结合多年的闪存制造经验,生产的最高
质量,可靠性和成本效益的水平。该MBM29LV160T / B内存电擦除内所有的位
通过福勒 - Nordhiem隧道同时一个部门。该字节/字编程一个字节/字在
时间使用热电子注入的EPROM编程机制。
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