AD1315
应用
对AD1315进行了优化充当有源负载
在ATE测试系统。图14示出的框图illus-
trating电子后面一个高速数字的一个引脚
功能测试系统来测试我的逻辑/ O引脚的能力
设备。在AD1315有源负载， AD1321或AD1324引脚
驱动程序， AD1317高速双比较器和AD664
四路12位电压的DAC将包括销电子
该测试系统的一部分。这样的系统可以运行在
100兆赫与AD1321 （ 200兆赫与AD1324 ）在
数据模式或50兆赫（100兆赫）中的I / O模式。
在V
COM
输入设置有效负载换相电压。
与DUT的输出电压高于V
COM
时，负载消耗电流
租金（我
OH
） 。下面V DUT的输出电压
COM
时，负载会
源电流（I
OL
） 。如我
OH
我
OL
回线， V
COM
必须能够吸收或源50毫安，因此，一个标准的运算
安培是不够的。的运算放大器的外部互为
tary输出级或高功率运算放大器，如AD842
会很好地工作在这里。一个典型的应用示于图15 。
布局的注意事项
I
OHRTN
我
OLRTN
可被连接到之间的任何潜在
-2 V和7 V.这些返回点必须能够源出或
水槽50毫安，由于我
OH
我
OL
编程电流
在这里转了禁止模式。该区域主题网络可以连接
到一个合适的GND连接。然而，为了保持暂态接地电流
到最低限度，它们通常依赖于在V
COM
程序设计
电压点。
图14.高速数字测试系统框图
图15.建议我
OHRTN
, I
OLRTN
, V
COM
接线图
REV 。一
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HANAMICRON [ HANAMICRON ]
