CD74HC373 ， CD74HCT373 ， CD54HC573 ， CD74HC573 ， CD74HCT573
测试电路和波形
6ns
产量
关闭
90%
50%
10%
t
PZL
50%
10%
t
PHZ
输出高
要OFF
输出
启用
90%
50%
输出
残
输出
启用
t
PZH
输出高
要OFF
输出
启用
输出低
要OFF
t
PHZ
90%
（续）
t
r
V
CC
GND
t
PLZ
产量
关闭
6ns
t
f
2.7
1.3
6ns
3V
0.3
t
PZL
GND
6ns
t
PLZ
输出低
要OFF
10%
t
PZH
1.3V
1.3V
输出
残
输出
启用
图7. HC THREE- State传播延迟
波形
图8. HCT THREE- State传播延迟
波形
其他
输入
拉高
或低
产量
关闭
用IC
三
状态
产量
产量
R
L
= 1kΩ
C
L
50pF
V
CC
对于T
PLZ
和T
PZL
GND对于T
PHZ
和T
PZH
注：漏极开路波形吨
PLZ
和T
PZL
是相同的那些三态显示在左边。该测试电路是输出r
L
= 1KΩ到
V
CC
, C
L
= 50pF的。
图9. HC和HCT THREE- State传播延迟测试电路
所有哈里斯半导体产品的制造，组装和测试下
ISO9000
质量体系CERTI网络阳离子。
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