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IDT72V245L15PF 参数 Datasheet PDF下载

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型号: IDT72V245L15PF
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内容描述: 3.3伏的CMOS SyncFIFO 256 ×18 , 512 ×18 , 1024 ×18 , 2048 ×18 ,以及4096 ×18 [3.3 VOLT CMOS SyncFIFO 256 x 18, 512 x 18, 1,024 x 18, 2,048 x 18, and 4,096 x 18]
分类和应用: 先进先出芯片
文件页数/大小: 25 页 / 216 K
品牌: IDT [ INTEGRATED DEVICE TECHNOLOGY ]
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IDT72V205 / 72V215 / 72V225 / 72V235 / 72V245 3.3V CMOS SyncFIFO
TM
256 ×18 , 512 ×18 , 1024 ×18 , 2048 ×18 ,4096 ×18
商业和工业
温度范围
功能说明
计时模式: IDT标准VS第一个字告吹
( FWFT )模式
该IDT72V205 / 72V215 / 72V225 / 72V235 / 72V245支持两种不同的
定时操作模式。这些模式将操作的选择是
在复位( RS )配置过程中确定的。在一
RS
操作时,首先
负载(佛罗里达州) ,读取扩展输入(
RXI )
并写扩展输入( WXI )引脚
用于选择每个表3所示。在IDT中的真值表的定时模式
标准模式下,写入到一个空的FIFO中的第一个字将不会出现在
数据输出线,除非执行一个特定的读操作。读操作,
其中包括启动读使能( REN) ,使上升的阅读
时钟( RCLK )边缘,从内部存储器中的字将转移到该数据输出
线。在FWFT模式中,写入FIFO为空的第一个字是直接主频
到RCLK信号的3转换后的数据输出线。一
是否
没有被断言为访问的第一个字。
各种信号,输入和输出信号进行操作不同,具体取决于
上定时模式是有效的。
IDT标准模式
在这种模式下,状态标志
FF , PAF , HF , PAE ,
EF
工作在
在表1中概述的方式将数据写入到FIFO中,写使能( WEN)
必须为低。呈现给线路上的数据的数据将被移入FIFO
在写时钟( WCLK )的后续转换。第一次写操作后,
执行时,空标志( EF)将变为高电平。后续写入将继续
填满FIFO中。可编程几乎空标志( PAE)将变为高电平
在n + 1个字已被加载到FIFO ,其中n是空的偏移
值。默认设置此值在表1本的脚注说明
参数也可由用户编程。查看可编程标志节
偏载。
如果继续将数据写入到FIFO中,并且我们假定没有读
行动发生的地点,半满标志( HF )将切换到低一次
第129 ( 72V205 ) ,第257 ( 72V215 ) ,第513 ( 72V225 ) ,第一千○二十五( 72V235 ) ,和
第二千〇四十九( 72V245 )字分别被写入FIFO 。继续
将数据写入到FIFO将导致可编程概 - 全标记(PAF )
变低。再次,如果没有读被执行,则
PAF
将变低后( 256米)
为IDT72V205写道, ( 512米)写的IDT72V215 , ( 1024米)写
为IDT72V225 , (2048米)写的IDT72V235和( 4096米)写
为IDT72V245 。偏移“m”为全部的偏移值。这个参数也
用户可编程的。查看可编程标志偏载部分。如果有
是没有完全偏移指定,
PAF
就为低时,该设备31离
为IDT72V205 , 63全满离全满了IDT72V215 ,和
127离全满了IDT72V225 / 72V235 / 72V245 。
当FIFO满时,满标志( FF)将变低,抑制了进一步的写
操作。如果没有读出复位后执行,
FF
将去D越低后写道:
到FIFO 。 D = 256写的IDT72V205 , 512为IDT72V215 , 1024
为IDT72V225 , 2048为IDT72V235 ,4096为IDT72V245 ,
分别。
如果FIFO为满时,所述第一读出操作将导致
FF
变高。
随后的读操作将导致
PAF
和半满标志( HF)去
高电平时如果发生进一步的读取操作在表1中描述的条件,
没有写操作,可编程几乎空标志( PAE )会
低时,有FIFO中,其中n是空的偏移值n个字。
如果没有空的偏移指定,则
PAE
就为低时,该设备31
离完全空了IDT72V205 , 63距完全是空的
为IDT72V215和127离完全空了IDT72V225 / 72V235 /
72V245 。继续读操作会导致FIFO是空的。当
最后一个字被从FIFO读出时,
EF
将变为低电平进一步抑制
读操作。
当FIFO为空,则忽略。
第一个字落空模式( FWFT )
在这种模式下,状态标志
红外光谱,血小板活化因子,HF
PAE和
OR
工作在
在表2中概述的方式将数据写入到FIFO中,
必须是低的。
呈现给线路上的数据的数据将被移入FIFO后续
WCLK的转变。进行第一次写入之后,将输出就绪(OR)的
标志将变低。后续写入将继续填补FIFO。
PAE
N + 2个字高后已加载到FIFO中,其中n是空的
偏移值。默认设置此值表示在表2中的脚注。
这个参数也可由用户编程。查看可编程标志节
偏载。
如果继续将数据写入到FIFO中,并且我们假定没有读
行动发生的地点时,
HF
会切换到低,一旦第130
( 72V205 ) ,第258 ( 72V215 ) ,第514 ( 72V225 ) ,第一千零二十六( 72V235 )和第二千○五十
( 72V245 )字分别被写入FIFO 。继续写入数据
到FIFO将导致
PAF
变低。同样,如果没有读取执行,
PAF
将变低后( 257米)写的IDT72V205 , ( 513米)写
为IDT72V215 , ( 1025米)写的IDT72V225 , ( 2049米)的写入
该IDT72V235和( 4097 -m)的写入为IDT72V245 ,其中m是满
偏移值。默认设置此值在表的脚注说明
2.
当FIFO满时,输入就绪( IR )标志将变为高电平,进一步抑制
写操作。如果没有读出复位后执行,
IR
会后,高
ð写入到FIFO 。 D = 257写的IDT72V205 , 513为IDT72V215 ,
1025为IDT72V225 , 2049为IDT72V235和4097的
IDT72V245 。另外,在FWFT模式的附加字,是由于容量
内存加上输出寄存器。
如果FIFO为满时,所述第一读出操作将导致
IR
标志变为低电平。
后续的读取操作将导致
PAF
HF
去高的
在表2中所述的条件。如果出现进一步的读操作,写操作不
操作中,
PAE
将变为低电平时,存在n + 1个字在FIFO中,在这里
n是空的偏移值。如果没有空的偏移指定,则
PAE
低时,该设备32远离完全空为IDT72V205 , 64
离完全空了IDT72V215和128离完全
空IDT72V225 / 72V235 / 72V245 。持续读取操作会导致
在FIFO是空的。当最后一个字被从FIFO中读出
OR
会去HIGH抑制进一步的读操作。
被忽略,当FIFO
是空的。
可编程标志LOADING
满和空标志偏移值可以是用户可编程的。该IDT72V205 /
72V215 / 72V225 / 72V235 / 72V245具有内部寄存器,这些偏移。
默认设置是在表1和表2。偏移值的脚注表示
被加载到FIFO使用的数据输入线D
0
-D
11
。加载偏移
寄存器,装载( LD )引脚和
引脚必须保持低电平。数据上呈现
D
0
-D
11
将被转移到空抵销注册先低到高
WCLK的过渡。通过继续持有
LD
引脚为低电平,数据存在
D上
0
-D
11
将被转移到全开胶印机上的下一个过渡登记
的WCLK 。第三个转变再次写入空偏移寄存器。写作
所有偏移寄存器不必发生在同一时间。一个或两个偏移量寄存器
可以写入,然后通过使
LD
引脚为高电平时,FIFO返回
正常读/写操作。当
LD
引脚和
被再次置为低电平,
在下一个偏移值寄存器中顺序写入。
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