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5962-3826708M7M 参数 Datasheet PDF下载

5962-3826708M7M图片预览
型号: 5962-3826708M7M
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内容描述: 微型电路,存储器,数字, CMOS 128K ×8位EEPROM ,单片硅 [MICROCIRCUIT, MEMORY, DIGITAL, CMOS 128K x 8 BIT EEPROM, MONOLITHIC SILICON]
分类和应用: 存储可编程只读存储器电动程控只读存储器电可擦编程只读存储器
文件页数/大小: 40 页 / 315 K
品牌: MAXWELL [ MAXWELL TECHNOLOGIES ]
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2.适用文件
2.1政府规范,标准和手册。下面的说明书,标准,和手册形成部
此图在此规定的范围内。除非另有说明,这些文件的问题都没有在这个列
发行规格和标准防御指数部( DoDISS )和补充于此,引用了
征集。
规范
国防部
MIL -PRF- 38535 - 集成电路,制造,一般规格。
标准
国防部
MIL -STD- 883 -
MIL -STD- 1835 -
环境管理体
国防部
MIL -HDBK- 103 -
MIL -HDBK -780 -
标准微电路图纸清单。
标准微电路图纸。
测试方法标准为电路。
接口标准微电路案纲要。
(除非另有说明,可从标准化的规范,标准,和手册的副本
文档订购中心, 700罗宾斯大道,大厦4D ,费城,宾夕法尼亚州19111-5094 ) 。
2.2非政府出版物。下列文件构成本文件在本文中所指定的范围的一部分。除非
另外说明,否则都DOD通过的文件的问题是那些列出的问题的DODISS中引用的
征集。除非另外指明,在DODISS未列出的文档的问题是在文档的引用的问题
在招标。
美国测试和材料协会(ASTM )
ASTM标准F1192-88
-
标准导则单事件现象的测量
半导体器件的重离子辐照。
(申请ASTM出版物的复印件应当给美国测试与材料, 1916
赛街,费城,宾夕法尼亚州19103 ) 。
电子工业协会( EIA )
JEDEC标准EIA / JESD78 - I / C闩锁测试。
(申请复印件应当给电子工业协会, 2500威尔逊大道,阿灵顿,
VA 22201 ) 。
(非政府标准和其他出版物通常可从准备或分发机构
的文档。这些文件也可提供在或通过库或其它信息服务)。
2.3优先顺序。在该图的文本和本文引用的参考文献,文本之间的冲突的情况下
这张图纸为准。本文件的内容,但是,取代除非适用的法律和法规
特定豁免已获得。
SIZE
标准
微电路图纸
哥伦布国防供应中心
美国俄亥俄州哥伦布市43216-5000
DSCC FORM 2234
APR 97
A
修订级别
G
5962-38267
4