数据表
HAL 710 ， HAL 730
5.3 。信号延迟
在所需的方向检测的附加电路
增加了计数和方向的延迟显
最终比一个简单的开关（例如， HAL 525 ） 。这
额外的延迟对应于0.5和1个时钟周期为
分别为方向信号和计数信号。
5.应用笔记
5.1 。环境温度
由于内部功耗，温度
在硅芯片上（结温度T
J
）较高
比包外部的温度（环境
温度T
A
).
T
J
=
T
A
+
Δ
T
5.4 。测试模式激活
为了得到正常运行所描述的
以上两个外部上拉电阻适当
值是必需的，以每个输出连接到一个外部
纳尔供应，使得在漏极开路电位
输出后hav-上升到至少3伏在小于10微秒
功能打开关闭相应的下拉晶体管或
已经应用V后
DD
.
如果方向输出被拉低外部（的
内部下拉转录后势不涨
体管已被关闭） ，设备制造进入
商测试模式。
方向检测功能不能正常使用的制造商
测试模式。该设备返回到正常操作
一旦计输出变为高电平。
在静态条件和连续操作中，跟着
以下公式适用于：
Δ
T
=
I
DD
×
V
DD
×
R
th
对于典型的价值观，用典型的参数。为
最坏的情况计算，可使用最大。对于参数
I
DD
和R
th
和最大值。值V
DD
从应用程序
阳离子。
对于所有的传感器，结温范围T
J
is
指定的。最高环境温度T
AMAX
可以计算为：
注意：
的生产测试模式的存在
需要适当的措施，以防止邮轮业咨询委员会
牙科激活（例如，响应于电磁兼容
事件）。
T
AMAX
=
T
JMAX
–
Δ
T
5.2 。延长工作条件
所有的传感器满足了电和磁character-
istics时的推荐能操作中的操作
阿婷条件（见第3.5节，第10页） 。
电源电压低于3.8 V
典型地，该传感器用电源电压的操作
以上3伏，但是，低于3.8的V某些特征
可以是本说明书之外。
注意：
传感器的下方3.8 V的功能
未经测试。对于特殊的试验条件，请
联系Micronas公司。
MICRONAS
二零零九年十月十三日; DSH000031_002EN
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