LM4041
电气特性（续）
注1 ：
最大极限值是指超出这可能会损坏设备的限制。工作额定值表明条件，该设备是
功能，但不保证特定的性能极限。关于规范保证和测试环境，请参阅电气特性。保证
规格仅适用于列出的测试条件。一些性能特性可能会降低，当设备没有下所列出的测试操作
条件。
注2 ：
最大功耗必须在高温下会减小，由T决定
JMAX
（最大结温）
θ
JA
（路口
环境的热阻） ，以及T
A
（环境温度） 。在任何温度下的最大允许功耗为PD
最大
= (T
JMAX
− T
A
)/θ
JA
或
在绝对最大额定值，以较低者为准定数。对于LM4041 ，T
JMAX
= 125℃ ，并且典型热阻（ θ
JA
） ，板装的时候，
对于SOT- 23封装326C / W ，为SC70封装℃和180℃ / W与0.4"引线长度和170℃ / W与0.125"引线长度为TO- 92封装415C / W 。
注3 ：
人体模型是一个100pF的电容通过一个1.5 kΩ电阻向每个引脚放电。机器模型是一个200 pF电容放电
直接向每个引脚。所有引脚的额定电压为2kV的人体模式，但反馈引脚，额定功率为千伏。
注4 ：
标准被定在T
J
= 25 ，代表最可能的参数指标。
注5 ：
极限是100 ％的产品在25℃的测试。极限超温是通过使用统计质量控制（ SQC）方法。
这些限制是用来计算美国国家半导体的AOQL 。
注6 ：
粗体（超温）限制反向击穿电压容差定义为室温反向击穿电压容差
±
[(∆V
R
vΔT ） （最大
△T） （Ⅴ
R
） ] 。其中，
∆V
R
/ΔT是V
R
温度系数， maxΔT是从25℃的基准点的温度差的最大值
给T
最大
或T
民
和V
R
是反向击穿电压。总过温在工业温度范围内，其中容差为不同等级
maxΔT = 65°C如下所示：
A级：
B级：
C-等级：
D-等级：
E级：
B级：
C-等级：
D-等级：
E级：
±
0.75% =
±
0.85% =
±
1.15% =
±
1.98% =
±
2.98% =
±
1.2% =
±
1.5% =
±
2.5% =
±
4.5% =
±
0.1%
±
0.2%
±
0.5%
±
1.0%
±
2.0%
±
100 PPM / C X 65°C
±
100 PPM / C X 65°C
±
100 PPM / C X 65°C
±
150 PPM / C X 65°C
±
150 PPM / C X 65°C
总过热的扩展级温度范围，其中最大容忍不同档次
∆T
= 100℃，显示如下：
±
0.2%
±
0.5%
±
1.0%
±
2.0%
±
100 PPM / C X 100˚C
±
100 PPM / C X 100˚C
±
150 PPM / C X 100˚C
±
150 PPM / C X 100˚C
因此，作为一个例子，在A级LM4041-1.2具有过热反向击穿电压公差
±
1.2V X 0.75 ％ =
±
9.2毫伏。
注7 ：
当V
OUT
≤
1.6V时， LM4041 -ADJ的SOT -23封装，必须在降低我操作
R
。这是由于模具的串联电阻之间的连接
模具（ - ）的输出和包（ - ）的输出引脚。参见输出饱和（仅SOT -23 ）曲线典型性能特性部分。
注8 ：
基准电压和温度系数将随着输出电压。见典型性能特性曲线。
典型性能特性
温度漂移为不同
平均温度系数
输出阻抗与频率
DS011392-19
DS011392-4
www.national.com
8
NSC [ NATIONAL SEMICONDUCTOR ]
