PI7C8150B
异步双端口PCI - TO- PCI桥接器
16.3
TAP测试数据寄存器
该PI7C8150B包含两个测试数据寄存器（旁路和边界扫描） 。每个测试
由TAP控制器选择的数据寄存器TDI和TDO之间串联连接。
TDI连接到测试数据寄存器的最显著位。 TDO连接到
至少显著位。数据被移位一比特位置寄存器内朝TDO上
TCK的每个上升沿。而任何寄存器被选择时，数据从TDI传送到
TDO无反转。以下各节描述了每个测试数据寄存器。
16.4
旁路寄存器
所需的旁路寄存器， 1位的移位寄存器，提供之间的最短路径
TDI和TDO当旁路指令生效。这使得测试快速移动
数据和从电路板上的其他元件。这个路径可以被选择时，没有测试
正在上PI7C8150B进行操作。
16.5
边界扫描寄存器
边界扫描寄存器包含每个引脚用于I / O的细胞以及对照细胞和
高阻抗引脚。
包含“控制”中选择的双向引脚或高阻抗输出的方向
销。当一个“1”被加载到所述控制单元，所述相关联的销（ S）的高阻抗或
选择作为输出。
边界扫描寄存器是一个必需的组串可移位寄存器单元，配置成在
主/从阶段和每个连接的PI7C8150B的引脚之间和片
系统逻辑。在VDD ，GND和JTAG管脚是不是在边界扫描链。
边界扫描寄存器单元是专用的逻辑和不具有任何系统作用。
数据可以被加载到从所述边界扫描寄存器的主单元
该器件的输入引脚和输出引脚驱动器并行的强制性和样品
EXTEST指令。并行加载发生在TCK的上升沿处。
数据可以经由TDI的串行输入引脚串行扫描到边界扫描寄存器，
通过TCK的上升沿计时。当所需要的数据已经被加载到
主细胞的阶段，它可在输入管脚或到输出被驱动到系统逻辑
上的状态的TCK下降沿引脚。数据也可以被移出边界扫描
通过TDO串行输出引脚在TCK的下降沿的方式登记。
16.6
TAP控制器
在TAP （测试访问端口）控制器是4状态同步有限状态机，
控制测试逻辑操作序列。在TAP可以通过总线主控控制。
总线主机可以是自动测试设备或组件（即PLD ）表示
接口技术咨询。 TAP控制器仅响应改变状态到的上升沿
TCK 。测试模式状态（TMS）的输入信号在TCK控制的上升沿的值
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2006年4月 - 修订版2.02
06-0044
PERICOM [ PERICOM SEMICONDUCTOR CORPORATION ]
