PM7324 S / UNI- ATLAS
S / UNI- ATLAS
数据表
PMC-1971154
问题7
S / UNI - ATM层解决方案
10
测试特点说明
同时断言（低）的CSB ， RDB和WRB投入导致所有数字输出引脚，
数据总线在高阻抗状态举行。此测试功能可被用于板的测试。
测试模式寄存器用于在S / UNI - ATLAS的生产测试应用的测试向量。
测试模式寄存器（而不是正常模式寄存器）被选择时的TRS （A [11]）是
高。
测试模式寄存器也可被用于板的测试。当所有的S / UNI-内的临时附属机构的
ATLAS被放置在测试模式0 ，设备的投入，可以读取和输出设备可以通过强制
微处理器接口（请参见"Test模式0"了解详情） 。
此外， S / UNI - ATLAS也支持标准的IEEE 1149.1五信号JTAG边界
扫描测试端口，用于电路板测试使用。所有的数字设备输入可以阅读所有数字设备
输出可以是通过JTAG测试端口。
在测试模式寄存器位注意：
1.将值写入未使用的寄存器位没有影响。然而，为了确保软件
未来，功能增强版本的产品，未使用的寄存器位必须兼容
被写入逻辑0 。读回未使用的位可以生成一个逻辑1或逻辑
零;因此，未使用的寄存器位应用软件读时屏蔽掉。
复位后2可写测试模式寄存器位不被初始化，除非另有说明。
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