AN0013
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NBB系列和NDA系列的可靠性
NBB系列和NDA系列的可靠性
本应用笔记提供了不同器件结温元件可靠性的更多信息，
并用在结温度的包的影响。此信息提供给NBB系列HBT基础广泛
带反馈放大器和NDA系列HBT分布式放大器。
器件的可靠性
RFMD采用了经过行业验证的高性能，高可靠性的镓磷化铟镓砷化物（的InGaP /
砷化镓）异质结双极晶体管（ HBT）技术以其NBB系列和NDA系列宽带放大器。
这个过程在超过一百万装置的加速寿命试验小时内完成。所用的试验装置具有两个
由20微米发射极的手指尺寸为3μm的。将该装置在3V和具有25KA / cm 2的电流密度下工作
2
。试验
设备相媲美尺寸器件尺寸的NBB系列和NDA系列组件的。此外，该操作
点，电压和电流两者的，是可比的设备的额定工作点。测试进行
在5结温点（ 257 ℃， 275 ℃， 285℃ ， 300℃和315 ℃）下，用50至100个器件，每个温测试
perature 。
图1示出了该装置的结果与标准时间外推到故障（ MTTF）为较低的结温。
结果表明，对于150 ℃的器件结温的平均无故障时间超过2万小时。为
125℃的平均时间器件结温故障30万小时。
1.5
350
300
250
结温（ ° C）
200
EA = 1.3伏特
MTTF = 3E7小时
@ TJ = 125℃
1.7
1.9
2.1
2.3
2.5
100
2.7
2.9
50
30
25
应激条件：
3V ， 25 KA /平方厘米
1.0E+05
1.0E+08
3.1
3.3
1.0E+04
1.0E+06
1.0E+07
1.0E+09
1000 / °K
150
15
技术说明
与文章
1.0E+01 1.0E+02
1.0E+03
中间的时间失败（小时）
图1. MTTF测试设备
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