基于碳化硅紫外线指数传感器
EryF *
特点
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特殊的UV指数传感器,精度可达+/- 0.5 UVI
最适合进行准确的太阳紫外线放射量测定
也适用于太阳晒黑银行剂量
碳化硅陶瓷基片上的辐射硬度
征可见失明由于宽禁带半导体材料
TO- 18金属封装,集成滤光玻璃
0,054 mm
2
有源芯片面积
该芯片是由Cree公司Research公司,美国制造
Eigenschaften
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Spezieller紫外线指数传感器麻省理工学院的einer Genauigkeit二祖+/- 0.5 UVI
Optimale Eignung献给präzise Messung松嫩DES -UV
奥赫geeignet楚Überwachung冯Solarien
Siliziumkarbid芯片garantiert霍厄Strahlungsfestigkeit
Inhärente Unempfindlichkeit gegenüber DEM sichtbaren Licht的第三人以DAS
Halbleitermaterial MIT达赫Bandlücke
的TO- 18 Metallgehäuse麻省理工学院integriertem Filterglas
0,054 mm
2
Aktive Chipfläche
Chiphersteller :克里研究公司, U.S.A.
修订版1.4
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