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K6X1008C2D-TF55 参数 Datasheet PDF下载

K6X1008C2D-TF55图片预览
型号: K6X1008C2D-TF55
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内容描述: 128Kx8位低功耗CMOS静态RAM [128Kx8 bit Low Power CMOS Static RAM]
分类和应用:
文件页数/大小: 10 页 / 179 K
品牌: SAMSUNG [ SAMSUNG SEMICONDUCTOR ]
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K6X1008C2D家庭
交流工作条件
测试条件
(测试负载和输入/输出参考)
输入脉冲电平: 0.8〜 2.4V
输入上升和下降时间: 5ns的
输入和输出参考电压: 1.5V
输出负载(见右图) :C
L
=100pF+1TTL
C
L
=50pF+1TTL
C
L
1)
CMOS SRAM
1.包括范围和夹具电容
AC特性
(V
CC
= 4.5 〜 5.5V ,商业产品:T已
A
= 0 〜70 ° C,工业产品:T已
A
= -40到85°C ,汽车产品:T已
A
=-40~125°C
)
速箱
参数表
符号
读周期时间
地址访问时间
芯片选择输出
输出使能到输出有效
芯片选择低阻抗输出
输出使能为低阻抗输出
芯片禁用到高阻输出
输出禁止到高阻输出
从地址变更输出保持
写周期时间
片选写的结束
地址建立时间
地址有效到写结束
把脉冲宽度
写恢复时间
写入输出高阻
数据写入时间重叠
从时间写数据保持
结束写入到输出低Z
t
RC
t
AA
t
CO
t
OE
t
LZ
t
OLZ
t
HZ
t
OHZ
t
OH
t
WC
t
CW
t
AS
t
AW
t
WP
t
WR
t
WHZ
t
DW
t
DH
t
OW
55
-
-
-
10
5
0
0
10
55
45
0
45
40
0
0
20
0
5
55ns
最大
-
55
55
25
-
-
20
20
-
-
-
-
-
-
-
20
-
-
-
70
-
-
-
10
5
0
0
10
70
60
0
60
50
0
0
25
0
5
70ns
最大
-
70
70
35
-
-
25
25
-
-
-
-
-
-
-
25
-
-
-
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
单位
数据保持特性
VCC为数据保留
数据保持电流
符号
V
DR
I
DR
CS
1
≥Vcc-0.2V
1)
K6X1008C2D-B
Vcc=3.0V,
CS
1
≥Vcc-0.2V
1)
K6X1008C2D-F
K6X1008C2D-Q
数据保留的建立时间
恢复时间
t
SDR
t
RDR
看到数据保存波形
测试条件
2.0
-
-
-
0
5
典型值
-
-
-
-
-
-
最大
5.5
10
10
20
-
-
单位
V
µA
µA
µA
ms
1. CS
1
≥Vcc-0.2V
,
CS
2
≥V
CC
-0.2V ,或CS
2
≤0.2V
5
修订版1.0
2003年9月