DPS-081104
片式磁珠
可靠性&测试条件
项
需求
测试条件
温度: 40
±
2
℃
湿度: 90
±
2 %RH的
外加电流:额定电流
时间: 500
±
12小时
在测量室内环境
温放置24小时后
温度: -55
±
3
℃
时间:1000年
±
12小时
在测量室内环境
温放置24小时后
1. -55
±
3 ℃ 30分钟
2.125
±
3
℃
30分钟
3.重复100周期
频率: 10 〜 55赫兹
振幅: 1.5毫米
方向:X , Y,Z
扫时间:2小时各轴
砸10次在水泥地上
从100厘米的高度
无机械损伤
项
A
(mm)
B
(mm)
C
(mm)
W
( KGF )
1005
1608
2012
3216
4516
4532
湿度负载
阻力
低温
阻力
1.无机械损伤
2.阻抗不得变更超过
±30
%
热冲击
片式磁珠,可靠性&测试条件
振动
降
W
R0.5
0.7
0.5
0.7
0.7
1.0
0.8
1.3
2.0
1.0
1.0
1.3
4.0
1.3
1.5
3.0
5.0
1.5
3.6
3.0
5.0
1.5
3.6
3.8
抗弯强度
C
A
5.0
B
20
A
50
W
弯曲强度
端子电极应是既不中断
也不是芯片损坏
R340
2 mm
电阻测量仪
在此目录中这说明如有更改,恕不另行通知
http://www.samwha.com/chip
SAMWHA ELECTRONICS CO 。 , LTD。