Edge710
500兆赫引脚电子驱动器，
窗口比较器和负载
EDGE的高性能产品
描述
该Edge710是一个完全的单片ATE引脚电子
在高性能的制造溶液
互补双极工艺。在自动测试
设备（ATE）应用， Edge710结合
一个驱动器，负载，并适合于一个窗口比较
在超大规模集成电路，混合信号，而且速度非常快的双向通道
存储器的测试系统。
该三态驱动器能够产生9V波动
在12V的范围内。另外， 13V超电压可以是
在一定的操作条件下获得的。另
上升和下降边缘的调整同时支持高速
和低速的应用程序，并允许优良的上升
和下降时间匹配。输入掉电模式允许
极低的漏电流成为HiZ 。
负载支持可编程的源和宿电流
of
±
35毫安超过12V的范围内，或者它可以是完全
禁用。源电流，灌电流，并
整流电压都单独设置。此外，
负载是可配置的，并且可以用作
可编程电压钳位。
窗口比较跨越一个12V的共模
范围，跟踪输入信号，边缘速率大于6
V / ns的，并通过亚毫微秒脉冲。的输入功率下
模式允许极低的泄漏测量。
把所有引脚电子积木成
52引线MQFP （10毫米的机身重量/内部散热）
提供了一个高度集成的解决方案，是传统
具有多个集成电路或分立器件实现。
特点
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•
完全集成的三态驱动器，窗口
比较器，以及动态有源负载
12V驱动器，加载，比较范围
13V超电压有能力
±
35毫安可编程负载
比较器的输入跟踪>6V / NS
泄漏（ L + D + C） 1 <
µA
（正常模式）
泄漏（ L + D + C） < 25 NA（ IPD模式）
占地面积小（ 52引脚MQFP ）
功能框图
BIAS
DVH
DHI
DHI *
RADJ
DOUT
DVR_EN
DVR_EN *
FADJ
DVL
IPD_D
QA *
QA
PECL
IPD_C
QB
QB *
CVB
VINP
CVA
VCC
应用
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•
•
•
超大规模集成电路测试设备
混合信号测试设备
内存测试仪（双向通道）
ASIC验证程序
1KΩ
ISC_IN
VCM_IN
VCM_OUT_A
VCM_OUT_B
负载
BRIDGE_SC
1KΩ
ISK_IN
LD_EN
LD_EN *
BRIDGE_SK
VEE
2000年修订版2 / 12月1日，
1
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