Rev.1.9
_00
3.检测延迟时间
电池保护IC ，电池组
S- 8261系列
表7
S- 8261AAG ，S- 8261AAH ，S- 8261AAJ ，S- 8261AAL ，S- 8261AAM ，S- 8261AAN ，S- 8261AAO ，S- 8261AAP ，
S- 8261AAR ，S- 8261AAZ ，S- 8261ABB ，S- 8261ABC ，S- 8261ABE ，S- 8261ABJ ，S- 8261ABK ，S- 8261ABM ，
S- 8261ABN ，S- 8261ABO ，S- 8261ABP ，S- 8261ABR ，S- 8261ABS
TEST
TEST
参数
符号
备注
MIN 。 TYP 。 MAX 。 UNIT
条件
电路
[DELAY TIME] 25℃
过充电检测延迟时间
t
CU
9
0.96 1.2
1.4
s
5
过放电检测延迟时间
t
DL
9
115 144 173
ms
5
1过电流检测延迟时间
t
lOV1
10
7.2
9
11
ms
5
2过电流检测延迟时间
t
lOV2
10
1.8 2.24 2.7
ms
5
负载短路检测延迟
t
短
10
220 320 380
5
µs
时间
[DELAY TIME]
−40
°C至
+85
°C
*1
过充电检测延迟时间
t
CU
9
0.7
1.2
2.0
s
5
过放电检测延迟时间
t
DL
9
80
144 245
ms
5
1过电流检测延迟时间
t
lOV1
10
5
9
15
ms
5
2过电流检测延迟时间
t
lOV2
10
1.2 2.24 3.8
ms
5
负载短路检测延迟
10
150 320 540
5
t
短
µs
时间
*1.
由于产品不能筛选在高和低的温度下，本说明书中对于此温度范围
由设计，而不是在生产测试。
表8
S-8261AAS
参数
符号
TEST
条件
备注
分钟。
典型值。
马克斯。
单位
TEST
电路
[DELAY TIME] 25℃
过充电检测延迟时间
t
CU
9
0.96 1.2
1.4
s
5
过放电检测延迟时间
t
DL
9
115 144 173
ms
5
1过电流检测延迟时间
t
lOV1
10
3.6
4.5
5.4
ms
5
2过电流检测延迟时间
t
lOV2
10
1.8 2.24 2.7
ms
5
负载短路检测延迟
t
短
10
220 320 380
5
µs
时间
[DELAY TIME]
−40
°C至
+85
°C
*1
过充电检测延迟时间
t
CU
9
0.7
1.2
2.0
s
5
过放电检测延迟时间
t
DL
9
80
144 245
ms
5
1过电流检测延迟时间
t
lOV1
10
2.5
4.5
7.7
ms
5
2过电流检测延迟时间
t
lOV2
10
1.2 2.24 3.8
ms
5
负载短路检测延迟
t
短
10
150 320 540
5
µs
时间
*1.
由于产品不能筛选在高和低的温度下，本说明书中对于此温度范围
由设计，而不是在生产测试。
精工电子有限公司
11
SII [ SEIKO INSTRUMENTS INC ]
