C8051F000/1/2/5/6/7
C8051F010/1/2/5/6/7
混合信号32KB ISP功能的Flash MCU系列
a
模拟外设
-
SAR ADC
12位（ C8051F000 / 1/2 ， C8051F005 / 6/7 ）
10位（ C8051F010 / 1/2 ， C8051F015 / 6/7 ）
±1LSB
INL ;无失码
可编程吞吐量高达100ksps的
多达8个外部输入;可编程为单
端或差分
可编程放大器增益： 16 ， 8 ， 4 ， 2 ， 1 ， 0.5
数据相关窗中断发生器
内置温度传感器（ ± 3 ° C）
HIGH SPEED 8051
µC
CORE
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流水线指令结构;执行的70％的
指令集在1或2个系统时钟
高达25MIPS吞吐量与25MHz的时钟
21向量中断源
256字节的内部数据RAM （ F000 / 01/02 /10/ 11/12 ）
2304字节的内部数据RAM （ F005 / 06 /07/ 15/16 /17）
32K字节FLASH ;在系统可编程以512字节
扇区
4字节宽的端口I / O;都是5V容限
硬件的SMBus
TM
(I2C
TM
兼容） ， SPI
TM
和UART
串行端口可同时
可编程的16位计数器/定时器阵列五
捕捉/比较模块
四个通用16位计数器/定时器
专用的看门狗定时器
双向复位
内部可编程振荡器： 2至16MHz的
外部振荡器：晶体， RC ，C或时钟
可以切换之间的时钟源上的飞;有用
省电模式
典型工作电流： 12.5毫安@ 25MHz的
多种省电休眠和关断模式
内存
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两个12位DAC
两个模拟比较器
可编程的滞后值
配置为产生中断或复位
数码外设
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参考电压
2.4V ; 15 PPM / C
可在外部引脚
精密VDD监视器/欠压检测
片内调试电路提供全速，非
侵入式的在系统调试（没有模拟器必填项）
提供了断点，单步，观察点，堆栈
MONITOR
检查/修改内存和寄存器
优越的性能仿真系统采用冰
芯片，目标吊舱，和插座
符合IEEE1149.1边界扫描
低成本开发套件
片内JTAG调试&边界扫描
时钟源
电源电压........................ 2.7V至3.6V
-
-
64引脚TQFP ， 48引脚TQFP封装， 32引脚LQFP
温度范围： -40 ° C至+ 85°C
模拟外设
温度
传感器
数字I / O
SMBUS
SPI总线
UART
交叉开关
AMUX
PGA
特区
VREF
12-Bit
DAC
+
+
-
定时器1
定时器2
定时器3
12-Bit
DAC
-
电压
比较
高速控制器内核
8051 CPU
时钟
DEBUG
JTAG
(25MIPS)
电路
电路
32KB
256/2304 B
21
SANITY
ISP功能的Flash
SRAM
中断控制
修订版1.7 11/03
版权所有©2003 Silicon Laboratories公司
端口3
端口2
定时器0
端口1
ADC
端口0
PCA
SILABS [ SILICON LABORATORIES ]
