4兆位小部门的Flash
SST29SF040 / SST29VF040
数据表
表6 ： DC Ø
操作摄像机
C
极特
V
DD
= 2.7-3.6V
为
SST29VF040
范围
符号
I
DD
参数
电源电流
读
编程和擦除
I
SB
I
LI
I
LO
V
IL
V
IH
V
IHC
V
OL
V
OH
待机V
DD
当前
输入漏电流
输出漏电流
输入低电压
输入高电压
输入高电压（ CMOS ）
输出低电压
输出高电压
V
DD
-0.2
0.7V
DD
V
DD
-0.3
0.2
25
30
15
1
10
0.8
mA
mA
µA
µA
µA
V
V
V
V
V
民
最大
单位
测试条件
地址输入= V
ILT
/V
IHT
，在f = 5MHz时，
V
DD
=V
DD
最大
CE＃ = V
IL
， OE ＃ = WE＃ = V
IH
，所有I / O开放
CE＃ = WE＃ = V
IL
， OE ＃ = V
IH
CE＃ = V
IHC
, V
DD
=V
DD
最大
V
IN
= GND到V
DD
, V
DD
=V
DD
最大
V
OUT
= GND到V
DD
, V
DD
=V
DD
最大
V
DD
=V
DD
民
V
DD
=V
DD
最大
V
DD
=V
DD
最大
I
OL
= 100 μA ，V
DD
=V
DD
民
I
OH
= -100 μA ，V
DD
=V
DD
民
T6.8 1160
表7 ，R
ECOMMENDED
S
变体系
P
OWER
-
UP
T
IMINGS
符号
T
PU-READ1
T
PU- WRITE
1
参数
上电到读操作
上电到编程/擦除操作
最低
100
100
单位
µs
µs
T7.1 1160
1.该参数仅在初步认证和设计或工艺变更可能影响该参数进行测量。
表8 ：C
APACITANCE （ TA = 25 ° C，F = 1 MHz，其他引脚开路）
参数
C
I / O
1
描述
I / O引脚的电容
输入电容
测试条件
V
I / O
= 0V
V
IN
= 0V
最大
12 pF的
6 pF的
T8.1 1160
C
IN1
1.该参数仅在初步认证和设计或工艺变更可能影响该参数进行测量。
表9 ：v
ELIABILITY
C
极特
符号
N
END1
T
DR1
I
LTH1
参数
耐力
数据保留
闭锁
最小规格
10,000
100
100 + I
DD
单位
周期
岁月
mA
测试方法
JEDEC标准A117
JEDEC标准A103
JEDEC标准78
T9.2 1160
1.该参数仅在初步认证和设计或工艺变更可能影响该参数进行测量。
©2004硅存储技术公司
S71160-10-000
2/04
8
SST [ SILICON STORAGE TECHNOLOGY, INC ]
