TABLE I. Electrical performance characteristics - Continued.
│
│
│Symbol
│
│
│
│t
WPW
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│t
RTC
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│t
PRT
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│t
RTR
│
│
│
│
│
│t
EFL
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
Conditions 1/
│
-55°C < T
C
< +125°C
│
4.5 V < V
CC
< 5.5 V
│
unless otherwise specified
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│Group
A
│subgroups
│
│
│9,
10, 11
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│9,
10, 11
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│9,
10, 11
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│9,
10, 11
│
│
│
│
│
│9,
10, 11
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
Device
│
types
│
│
│
01
│
│
02
│
│
03
│
│
04
│
│
05
│
│
06
│
│
07
│
│
01
│
│
02
│
│
03
│
│
04
│
│
05
│
│
06
│
│
07
│
│
01
│
│
02
│
│
03
│
│
04
│
│
05
│
│
06
│
│
07
│
│
01
│
│
02,03
│
│
04 - 07
│
│
01
│
│
02
│
│
03
│
│
04
│
│
05
│
│
06
│
│
07
│
│
Limits
│
│
│
Min
│
Max
│
│
│
│
│
80
│
│
│
│
65
│
│
│
│
50
│
│
│
│
40
│
│
│
│
30
│
│
│
│
20
│
│
│
│
25
│
│
│
│
100
│
│
│
│
80
│
│
│
│
65
│
│
│
│
50
│
│
│
│
40
│
│
│
│
45
│
│
│
│
35
│
│
│
│
80
│
│
│
│
65
│
│
│
│
50
│
│
│
│
40
│
│
│
│
30
│
│
│
│
35
│
│
│
│
25
│
│
│
│
20
│
│
│
│
15
│
│
│
│
10
│
│
│
│
│
100
│
│
│
│
80
│
│
│
│
65
│
│
│
│
50
│
│
│
│
40
│
│
│
│
30
│
│
│
│
35
│
│
│
Unit
│
│
│
│
ns
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
ns
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
ns
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
ns
│
│
│
│
│
│
ns
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
Test
Write high to master
reset high
Retransmit cycle time
Retransmit pulse width
Retransmit recovery
time
Master reset to
empty flag low
See footnotes at end of table.
SIZE
STANDARD
MICROCIRCUIT DRAWING
DEFENSE SUPPLY CENTER COLUMBUS
COLUMBUS, OHIO 43218-3990
DSCC FORM 2234
APR 97
A
REVISION LEVEL
5962-88669
SHEET
E
8
TEMIC [ TEMIC SEMICONDUCTORS ]
