71M6521DE/71M6521FE
电能计量IC
数据表
2008年1月
温度补偿和电源稳频的RTC
由MPU提供的灵活性允许使用的基板温度RTC的补偿。为了实现这一点，该
晶体具有的特征在于在温度和三个系数
Y_CAL ， Y_CALC ，
和
Y_CAL_C2
要
计算出来的。提供在IC基板温度轨迹晶体温度的系数可以在MPU中使用
固件引发的RTC秒计数偶尔更正，使用
RTC_DEC_SEC
or
RTC_INC_SEC
在寄存器
I / O RAM 。
例如：
让我们假设其特征在于，在表61中所示的测量的晶体：
从偏差
公称
温度[° C]
+50
+25
0
-25
-50
测
频率[Hz]
32767.98
32768.28
32768.38
32768.08
32767.58
从偏差
公称
频率[ PPM ]
-0.61
8.545
11.597
2.441
-12.817
表61 ：频率随温度
这些值表明，即使在额定温度（在该芯片被校准为能量时的温度） ，该偏差
从理想的晶振频率为11.6 PPM ，造成每天约一秒钟的误差，也就是说比一些标准更多
允许。如图30所示，即使是恒定的补偿就不会带来太大的改善，由于温度
晶体的特性是恒定的，线性的，二次的影响的组合。
32768.5
32768.4
32768.3
32768.2
32768.1
32768
32767.9
32767.8
32767.7
32767.6
32767.5
-50
-25
0
25
50
图30 ：晶体工作频率随温度
一个方法来纠正晶体的温度特性是通过以从该曲线的系数在图30中
曲线拟合所述PPM偏差。一个相当接近的曲线拟合实现了与系数a = 10.89 ， B = 0.122和c = -0.00714
（参见图31） 。
a
b
c
⎫
⎧
f
=
f
喃
⋅ ⎨
1
+
6
+
T
6
+
T
2 6
⎬
10
10
⎭
⎩
10
当施加反向系数的曲线（参见图31） ，将导致有效地中和了原始晶
的特点。使用拟合系数如下算出的频率：
v1.0
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页数： 61 101
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