WM2616
生产数据1.0版
测试条件：
R
L
= 10kΩ的，C
L
= 100pF的。 VDD = 5V
±
10%, V
REF
= 2.048V和VDD = 3V
±
10%, V
REF
= 1.024V在推荐工作的自由空气
温度范围（除非另有说明） 。
参数
参考
参考输入电阻
参考输入电容
参考穿心
参考输入带宽
R
REFIN
C
REFIN
V
REF
= 1V
PP
在1kHz
+ 1.024V DC ， DAC码0
V
REF
= 0.2V
PP
+ 1.024V DC
DAC码2048
慢
快
I
IH
I
IL
C
I
输入电压VDD =
输入电压= 0V
3
10
5
-75
MΩ
pF
dB
符号
测试条件
民
典型值
最大
单位
0.5
1.3
1
-1
兆赫
兆赫
µA
µA
pF
数字输入
高电平输入电流
低电平输入电流
输入电容
注意事项：
1.
积分非线性
（INL）是从行输出的零点和满度（不包括零的效果之间的最大偏差
代码和满量程误差） 。
2.
微分非线性
（DNL）是任何两个相邻的代码测量的和理想的1LSB振幅变化之间的差异。一
单调性的保证装置在相同的方向上的输出电压的变化（或保持不变）的数字输入码的变更。
3.
零代码错误
为电压输出时， DAC输入代码是零。
4.
增益误差
是从理想的满刻度输出不包括零码错误的影响的偏差。
5.
电源抑制比
通过改变VDD为4.5V至5.5V ，并测量施加在该信号的比例衡量
零码误差和增益误差。
6.
零代码错误
和
增益误差
温度系数进行归一化，以满刻度电压。
7.
输出负载调整
是在满刻度用10kΩ的负荷和2kΩ的负载的输出电压之间的差。它被表示为一个
满量程输出电压与一个10kΩ负载百分比。
8.
I
DD
同时连续地写入代码2048至DAC被测量。对于V
IH
< VDD - 0.7V和V
IL
> 0.7V的电源电流将增加。
9.
典型电源电流
在掉电模式下10nA的是。生产测试限制是更广泛的测试速度。
10.
压摆率
结果对的上升沿和下降沿的转换速率较低值
11.
建立时间
是采取沉淀到内最终测量值的0.5LSB在上升沿和下降沿的信号的时间。范围
都确保了设计和特性，但不生产测试。
12.
SNR ， SNRD ， THD
和
SPFDR
是在频率f上测量合成的正弦波
OUT
以采样频率fs产生
.
欧胜微电子有限公司
生产数据修订版1999年1.0月
4
WOLFSON [ WOLFSON MICROELECTRONICS PLC ]
