对于电子行业中那些期待由下一个杀手级应用带来更多业务的人来说，他们的等待结束了。我们可能已经进入电子行业的一个新阶段，尽管没有像预期的那样轰动，但下一波浪潮已经来临。

     　　下一个发展前沿是之前分立的技术领域的融合。这种融合使用户不必受目前联网基础设施和带宽的约束，允许他们访问比以往任何时候更多的信息，其结果是空间和时间上的空前自由以及家庭和工作生活的便利。

　　通观半导体行业的历史，我们可以清楚地看到，伴随着每次重大的市场浪潮，半导体产品的出货量呈指数式增长。

　　什么是每次浪潮背后的推动力量呢？在这里，我将重点介绍几个关键的转折点： 　　1981年，IBM推出了第一款用于文本和数据处理的个人计算机，从而把计算带到了个人桌面上。

　　1992年，包含一千多处增强功能的微软Windows 3.1上市。世界各地的订单数量超过100万套，显示了空前庞大的用户需求。

　　到2005年，全球移动电话的普及率将由1999年的8.1%上升到24%。考虑到亚洲和拉丁美洲的巨大潜力以及非洲的增长机会，这个数字在 2007年将达到全球人口的27.4%。

　　驱动下一波浪潮的将是大量涌现的新技术，其中最重要的趋势是计算、消费类电子和通信功能正在融合到“超级”消费类产品中，这类产品在单个设备中提供了一系列功能，如带有数码相机和互联网访问功能的移动电话或者带有家庭联网和多媒体游戏功能的PC。

　　融合的思想在上个世纪80年代早期就已经出现，但直到今天，通过片上系统、系统级封装、堆叠式存储器件和超密印刷电路板等各种技术的创新，这种想法才在经济上变得可行。

　　如果我们列出新半导体工艺技术(1.0、0.5、0.25微米和目前的130、90纳米及更小尺寸的工艺)到来的日子，你会发现在工艺技术的创新与消费市场的浪潮之间存在着有趣的关联。我们从中得出结论，工艺技术革新刺激了下一代消费类应用，并衍生出“半导体的创新周期”。

　　当每一次新浪潮开始时，新的测试挑战也随之而来。在我们迈向下一个技术节点的过程中，我们注意到，用于测试解决方案的支出比例有所提高，这说明大部分新投资都被用于测试下一代器件。特别地，半导体行业中的自动测试设备(ATE)业务正是处在这块派生市场中。因此，这类自动测试方案必须为测试下一代器件做好技术准备,以迎接它们所带来的挑战。

　　下一波浪潮将对测试产生重大影响。新器件所具有的功能和性能多得令人难以置信，但它们能否成功主要取决于是否能达到消费者可接受的价格点。

　　对于业内厂商来说，真正的挑战是如何把高性能测试的成本降下来。

　　但这并不是问题的全部。随着市场更大程度地转变为消费者驱动型，电子行业现在也受消费者变化无常的喜好所驱动。

　　消费者将更倾向于拥有基于PC，还是基于游戏的家庭媒体中心？拥有无边界办公室的移动工作者将有哪些独特需求？互联网电话的下一个应用领域是什么？ 　　所有这些不确定性都对测试的灵活性提出了要求，而这些要求的难度远远超过以往由PC驱动的市场对测试的要求。在那个时候，制造商可以花费几个月甚至上年的时间来开发供大批量生产的器件。客户可以为某个特定应用选择定制测试系统的年代已经一去不复返，而且这也不再可行。

　　现在，测试解决方案 (特别是ATE)必须比过去更加灵活才能适应消费类市场。相应地，为了实现多种技术集于一体，越来越多的ATE制造商发现自己必须支持“灵活且可扩展的测试系统”这个概念。

　　在这个不仅要求快速上市而且要求率先上市的大环境中，拥有合适的ATE将是质量的保证。在开发过程的早期发现错误或故障并改正它们是至关重要的，因为这可以避免在后期为了纠正错误而导致成本呈指数式增长。

　　（转自　电子爱好者　安捷伦公司　副总裁兼总经理　作者：Amos Leong）