| 德仪器解决65纳米漏电问题 |
| 类别:电子综合 |
|                         德州仪器近日宣布可利用通过实际产品的严格考验的SmartReflex功耗与效能管理技术,有效解决65纳米移动元件的漏电问题,其效果胜过传统的元件功耗管理技术上。           德州仪器介绍,SmartReflex技术结合智慧型和适应性硅片、电路设计与软件,可解决先进半导体制程的功耗与效能管理问题,并协助OEM厂商提供体积精巧、电池寿命长且散热更少的多媒体移动装置。此外,SmartReflex技术采用涵盖元件设计到系统软件等所有层面的系统方法,既可确保元件效能,又能有效解决移动装置的功耗问题。 TI首先将SmartReflex技术用于90纳米制程,随后又将这套先进技术解决方案用于65纳米产品;目前已有一亿多台移动装置采用SmartReflex技术发展的元件。 据悉TI正将此技术用于OMAP 2系列应用处理器,未来还会在无线产品中采用更先进的SmartReflex技术。           |
相关技术资料
- 海尔空调制冷故障维..
- 2008-1-25
- 大尺寸TFT显示器..
- 2008-1-27
- 利用DC/DC转换..
- 2008-1-27
- 电动车铅酸蓄电池的..
- 2008-1-27
- 大型搅拌站自动配料..
- 2008-1-27
- 城市和工业污水处理..
- 2008-1-27
- 开关电源的数字控制..
- 2008-1-27
- 精密的智能电池使充..
- 2008-1-27
- 基于DSP控制的2..
- 2008-1-27
- 增强型运营商级多服..
- 2008-1-27
- 高效CCD数码相机..
- 2008-1-27
- Atheros 单..
- 2008-1-27
- Philips 推..
- 2008-1-27
- Fujitsu 数..
- 2008-1-27
- 如何给PCI卡选用..
- 2008-1-27
- A/D转换芯片的测..
- 2008-1-27
- 基于CTl技术的交..
- 2008-1-27
- MMIC和RFIC..
- 2008-1-27
- 利用皮弹服务器进行..
- 2008-1-27
- 白色发光二极管及其..
- 2008-1-27



