本报讯 吉时利(Keithley)仪器公司日前发布6.1版交互式KTEI暨功能强大的KTEI(吉时利交互式测试环境)测量软件最新版本，适用于4200-SCS半导体特性分析系统。新版KTEI6.1软件增强了吉时利4200-PIV的脉冲I-V能力并显著改进脉冲和DC测量的相关性。吉时利4200-PIV包将4200-SCS的能力扩展至包含脉冲发生和分析的领域，适用于材料和器件特性分析。

来源：中国电子报