针对新兴测量需求的业界领先的解决方案供应商吉时利仪器公司 (Keithley Instruments, Inc.)（纽约证券交易所代码：KEI）今日宣布，该公司再次收到 Hynix Semiconductor, Inc. 发出的关于向吉时利仪器公司购买 S680 DC/RF 参数测试系统的订单。该订单涉及多个系统。Hynix 是韩国领先的半导体生产商，同时也是全球最大的 DRAM（动态随机存取存储器）生产商。该订单所订购的系统包括用于 300mm 晶圆生产流程控制的测试器。该晶圆目前正在 Hynix 位于韩国利川 (Icheon) 的 M3A 晶圆工厂进行生产。此外还包含用于 Hynix M8/9 工厂 200mm 晶圆生产流程控制的测试器。这些系统将对 Hynix 的 Flash（闪存）存储器、DRAM、SRAM (Synchronous Random Access Memory) 以及系统集成电路设备的生产进行监控。　　吉时利驻韩国业务经理 William Yang 解释说：“Hynix 继续订购我们的 S680 DC/RF 检测器，因为他们先前（使用我们产品）的经历使他们的工程师确信我们的系统能够提供优良的技术性能，并能确保更低的拥有成本。我们在整合最快的测试生产、优良的测量准确性和较高的性价比方面的能力，是 S680DC/RF 之所以能在世界各地广泛采用的主要原因之一。”　　吉时利业务发展部副总裁 Mark Hoersten 则表示：“半导体工厂重复定购 S680 DC/RF 系统这一事实证明，我们为了创造一种能够提供先进测量能力而又不会牺牲使用的容易性的独特产品而进行的投资是正确的。其独特的结构可以确保在探针尖端取得优良的测量结果，从而对 Flash 存储设备的生产流程进行更佳的控制，并且能够随着新的流程和设备的开发而提供更高的灵活性。”　　吉时利2003年推出的 S680 型 DC/RF 参数测试系统是专门为高级逻辑、存储和模拟集成电路的晶圆级参数测试而量身定做的。这样的一个测试系统就整合了并行测试能力、较高的直流电 (DC) 灵敏度、千万亿分之一安培 (Femtoamp) 量级的分辨率以及高达 40GHz 的射频 (RF) S-参数 (s-parameter) 测量能力。这为业界带来了在65纳米节点甚至要求更高的条件下进行测量的最高的生产能力和更低的拥有成本。　 （转自　中国元器件在线）