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人们对事物或信号的反应速度有快有慢，反应能力各不相同。本例介绍的反应能力测试器，利用发光二极管来测试人对信号的反应速度。经常进行反应测试训练，有助于提高对事物的反应能力。 电路工作原理 该反应能力测试器电路由延时电路、测试信号灯、多谐振荡器，减法计数器、LED驱动显示电路和控制电路组成，如图6-28所示。 电路中，延时电路由或非门集成电路IC 1（D1一D4)内部的或非门D1和电阻器R1、电容器C1组成；测试信号灯电路由发光二极管VL1、非门集成电路IC2（D5一D10）内部的非门D7、D8和电阻器R2组成；多谐振荡器由IC2内部的非门D5、D6和电阻器R16、R17、电容器C4组成；减法计数器由移位寄存器集成电路IC4担任；LED驱动显示电路由发光二极管VL2一VL9和电阻器R3－R10、非门集成电路IC3（D11一D16）、IC2内部的D9、D10组成；控制电路由控制按钮S1、电阻器R13一R15、电容器C2、C3、二极管VD和IC1内部的或非 
门D2一D4组成。 接通电源开关S2后，电源指示发光二极管VL10点亮。在开机瞬间，由于Cl两端电压不能突变，Dl的输入端为低电平，输出端为高电平。此时D7输出低电平，D8输出高电平，VL1不发光；多谐振荡器振荡工作，为IC4提供周期约为50ms的时钟脉冲。IC4在该时钟脉冲的作用下，各输出端依次逐端变为高电平。通过D9一D16反相缓冲后使V L2一V L9依次递增发光，直至全部点亮。 当C1充满电（约3 -4s）时，D1的输出端变为低电平，使D7输出高电平，D8输出低电平，VL1点亮。同时，IC4因15脚输入低电平而由加法计数变为减法计数，在时钟脉冲的作用下，其各输出端从左至右依次逐端变为低电平，使V L2一V L9依次递减熄灭。 在VLl点亮的同时，若测试者在50ms之内按下S1，使D3的输出端变为低电平，VD导通，迫使多谐振荡器停振、IC4保持加法计数、VLZ一V L9全部点亮的状态；若测试者在大于50ms、低于looms的时间内按下S1，则IC4已进人减法计数状态，其13脚（l Q1端）已变为低电平，使V L2熄灭，但V L3一V L9仍维持点亮状态；若测试者在大于looms、低于150ms的时间内按下Si，则IC4的12脚（1Q2端）也变为低电平，此时V L2和VU熄灭，VL4一V L9仍点亮……若测试者在VLI点亮400ms之后才按动S1，则V L2一V L9已全部递减熄灭。即按下S1后，点亮的发光二极管数量越多，说明测试者的反应速度越快；点亮的发光二极管的数量越少，说明测试者的反应速度越慢。 元器件选择 R1一R17选用1%4W碳膜电阻器或金属膜电阻器。 C1选用耐压值为16V的电解电容器；C2一C4选用独石电容器或涤纶电容器。 VD选用I N4148型硅开关二极管。 VLl一VL10均选用币5mm的高亮度发光二极管，VLl选黄色，V L2一V L9选红色，VL10选绿色。 IC 1选用CD4001型四或非门集成电路：IC2和IC3选用CD4069型六非门集成电路；IC4选用CD4015或MC14015型双4位移位寄存器集成电路。 S1选用微型动合（常开）按钮；S2选用动合自锁式按钮或拨动式开关。 GB选用9V叠层电池。 |
