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产品型号08055A471JAT2A的概述

芯片08055A471JAT2A的概述 08055A471JAT2A是一款广泛应用于不同电子设备中的电阻器组件,具体属于表面贴装(SMD)技术范畴。电阻器作为电子电路中最基本的元件之一,它的主要功能是控制电流的流动并分配电压。因此,08055A471JAT2A在诸如电源管理、信号处理等多个领域中扮演着不可或缺的角色。 芯片08055A471JAT2A的详细参数 08055A471JAT2A的基本参数包括: - 阻值:47Ω(欧姆) - 误差范围:±5% - 功率额定值:0.125W(125mW) - 温度系数:±100ppm/℃(每摄氏度的变化引起的阻值变化) - 封装类型:0805(即0805型表面贴装封装) 08055A471JAT2A的型号组成部分中,“0805”指的是其物理尺寸,具体而言是0.08英寸×0.05英寸(约2.0mm×1.2mm)。这种尺寸使得08055A471JA...

产品型号08055A471JAT2A的Datasheet PDF文件预览

C0G (NP0) Dielectric  
General Specifications  
C0G (NP0) is the most popular formulation of the  
“temperature-compensating,” EIA Class I ceramic  
materials. Modern C0G (NP0) formulations contain  
neodymium, samarium and other rare earth oxides.  
C0G (NP0) ceramics offer one of the most stable capacitor  
dielectrics available. Capacitance change with temperature  
is 0 ±±0ppmꢀ/C which is less than ±0.±ꢁ C from -55/C  
to +125/C. Capacitance drift or hysteresis for C0G (NP0)  
ceramics is negligible at less than ±0.05ꢁ versus up to  
±2ꢁ for films. ypical capacitance change with life is less  
than ±0.1ꢁ for C0G (NP0), one-fifth that shown by most  
other dielectrics. C0G (NP0) formulations show no aging  
characteristics.  
PART NUMBER (see page 2 for complete part number explanation)  
0805  
A
101  
J
A
T
2
A
5
Size  
(L" x W")  
Dielectric  
C0G (NP0) = A  
Capacitance  
Code (In pF)  
2 Sig. Digits +  
Number of  
Zeros  
Capacitance  
Tolerance  
Failure  
Rate  
A = Not  
Applicable  
Terminations  
ꢂ = Plated Ni  
and Sn  
Packaging  
2 = 7" Reel  
Special  
Code  
A = Std.  
Product  
Voltage  
6.±V = 6  
10V = Z  
16V = Y  
25V = ±  
50V = 5  
100V = 1  
200V = 2  
500V = 7  
B = ±.10 pꢃ (ꢄ10pꢃ)  
C = ±.25 pꢃ (ꢄ10pꢃ)  
D = ±.50 pꢃ (ꢄ10pꢃ)  
ꢃ = ±1ꢁ (ꢅ 10 pꢃ)  
G = ±2ꢁ (ꢅ 10 pꢃ)  
4 = 1±" Reel  
7 = Bulk Cass.  
9 = Bulk  
7 = Gold Plated  
Contact  
Factory For  
1 = Pd/Ag Term  
Contact  
Factory  
For  
J
= ±5ꢁ  
K = ±10ꢁ  
Multiples  
NOꢂE: Contact factory for availability of ermination and olerance Options for Specific Part Numbers.  
Contact factory for non-specified capacitance values.  
Temperature Coefficient  
Insulation Resistance vs Temperature  
Capacitance vs. Frequency  
10,000  
1,000  
100  
+2  
Typical Capacitance Change  
Envelope: 0 30 ppm/°C  
+1  
+0.5  
0
0
-1  
-2  
-0.5  
0
1KHz  
10 KHz  
100 KHz  
1 MHz  
10 MHz  
-55 -35  
+125  
-15 +5 +25 +45 +65 +85 +105  
40  
60  
80  
100  
0
20  
Frequency  
Temperature °C  
Temperature °C  
Variation of Impedance with Cap Value  
Impedance vs. Frequency  
0805 - C0G (NP0)  
Variation of Impedance with Ceramic Formulation  
Impedance vs. Frequency  
1000 pF - C0G (NP0) vs X7R  
0805  
Variation of Impedance with Chip Size  
Impedance vs. Frequency  
1000 pF - C0G (NP0)  
10 pF vs. 100 pF vs. 1000 pF  
100,000  
10  
10.00  
1206  
0805  
1812  
1210  
X7R  
NPO  
10,000  
1,000  
100  
1.00  
1.0  
0.1  
0.10  
0.01  
10 pF  
10.0  
1.0  
0.1  
100  
1000  
10  
100 pF  
1000 pF  
100  
1000  
10  
Frequency, MHz  
Frequency, MHz  
1
100  
Frequency, MHz  
1000  
10  
4
C0G (NP0) Dielectric  
Specifications and Test Methods  
Parameter/Test  
Operating Temperature Range  
Capacitance  
NP0 Specification Limits  
Measuring Conditions  
emperature Cycle Chamber  
ꢃreq.: 1.0 MHz ± 10ꢁ for cap ꢆ 1000 pꢃ  
1.0 kHz ± 10ꢁ for cap ꢇ 1000 pꢃ  
Voltage: 1.0Vrms ± .2V  
-55ºC to +125ºC  
Within specified tolerance  
ꢄ±0 pꢃ: Qꢅ 400+20 x Cap Value  
ꢅ±0 pꢃ: Qꢅ 1000  
Q
100,000MΩ or 1000MΩ - μ,  
whichever is less  
Charge device with rated voltage for  
60 ± 5 secs ꢈ room tempꢀhumidity  
Charge device with ±00ꢁ of rated voltage for  
1-5 seconds, wꢀcharge and discharge current  
limited to 50 mA (max)  
Insulation Resistance  
Dielectric Strength  
No breakdown or visual defects  
Note: Charge device with 150ꢁ of rated  
voltage for 500V devices.  
Appearance  
Capacitance  
Variation  
No defects  
Deflection: 2mm  
est ꢂime: ±0 seconds  
±5ꢁ or ±.5 p, whichever is greater  
Resistance to  
Flexure  
1mm/sec  
Q
Meets Initial Values (As Above)  
ꢅ Initial Value x 0.±  
Stresses  
Insulation  
Resistance  
90 mm  
ꢅ 95ꢁ of each terminal should be covered  
with fresh solder  
No defects, ꢄ25ꢁ leaching of either end terminal  
Dip device in eutectic solder at 2±0 ± 5ºC  
for 5.0 ± 0.5 seconds  
Solderability  
Appearance  
Capacitance  
Variation  
ꢆ ±2.5ꢁ or ±.25 p, whichever is greater  
Dip device in eutectic solder at 260ºC for 60  
seconds. Store at room temperature for 24 ± 2  
hours before measuring electrical properties.  
Resistance to  
Solder Heat  
Q
Meets Initial Values (As Above)  
Meets Initial Values (As Above)  
Insulation  
Resistance  
Dielectric  
Meets Initial Values (As Above)  
No visual defects  
Strength  
Appearance  
Capacitance  
Variation  
Step 1: -55ºC ± 2º  
Step 2: Room emp  
±0 ± ± minutes  
ꢆ ± minutes  
ꢆ ±2.5ꢁ or ±.25 p, whichever is greater  
Thermal  
Shock  
Q
Meets Initial Values (As Above)  
Meets Initial Values (As Above)  
Step ±: +125ºC ± 2º  
Step 4: Room emp  
±0 ± ± minutes  
ꢆ ± minutes  
Insulation  
Resistance  
Dielectric  
Repeat for 5 cycles and measure after  
24 hours at room temperature  
Meets Initial Values (As Above)  
No visual defects  
Strength  
Appearance  
Capacitance  
Variation  
ꢆ ±±.0ꢁ or ± .± p, whichever is greater  
Charge device with twice rated voltage in  
test chamber set at 125ºC ± 2ºC  
for 1000 hours (+48, -0).  
ꢅ ±0 pꢃ:  
ꢅ10 p, ±0 pꢃ:  
ꢄ10 pꢃ:  
Qꢅ ±50  
Qꢅ 275 +5Cꢀ2  
Qꢅ 200 +10C  
Q
Load Life  
(C=Nominal Cap)  
Insulation  
Resistance  
Dielectric  
Remove from test chamber and stabilize at  
room temperature for 24 hours  
before measuring.  
ꢅ Initial Value x 0.± (See Above)  
Meets Initial Values (As Above)  
No visual defects  
Strength  
Appearance  
Capacitance  
Variation  
ꢆ ±5.0ꢁ or ± .5 p, whichever is greater  
Store in a test chamber set at 85ºC ± 2ºCꢀ  
85ꢁ ± 5ꢁ relative humidity for 1000 hours  
(+48, -0) with rated voltage applied.  
ꢅ ±0 pꢃ:  
ꢅ10 p, ±0 pꢃ:  
ꢄ10 pꢃ:  
Qꢅ ±50  
Qꢅ 275 +5Cꢀ2  
Qꢅ 200 +10C  
Load  
Q
Humidity  
Insulation  
Resistance  
Dielectric  
Strength  
Remove from chamber and stabilize at  
room temperature for 24 ± 2 hours  
before measuring.  
ꢅ Initial Value x 0.± (See Above)  
Meets Initial Values (As Above)  
5
C0G (NP0) Dielectric  
Capacitance Range  
PREFERRED SIZES ARE SHADED  
SIZE  
0201  
0402  
0603  
0805  
1206  
Soldering  
Packaging  
Reflow Only  
All Paper  
Reflow/Wave  
All Paper  
Reflow/Wave  
All Paper  
Reflow/Wave  
Reflow/Wave  
Paper/Embossed  
Paper/Embossed  
mm  
(in.)  
0.60 ± 0.0±  
1.00 ± 0.10  
1.60 ± 0.15  
2.01 ± 0.20  
±.20 ± 0.20  
(L) Length  
(0.024 ± 0.001)  
(0.040 ± 0.004)  
(0.06± ± 0.006)  
(0.079 ± 0.008)  
(0.126 ± 0.008)  
mm  
(in.)  
0.±0 ± 0.0±  
(0.011 ± 0.001)  
0.50 ± 0.10  
(0.020 ± 0.004)  
0.81 ± 0.15  
(0.0±2 ± 0.006)  
1.25 ± 0.20  
(0.049 ± 0.008)  
1.60 ± 0.20  
(0.06± ± 0.008)  
(W) Width  
mm  
(in.)  
0.15 ± 0.05  
(0.006 ± 0.002)  
0.25 ± 0.15  
(0.010 ± 0.006)  
0.±5 ± 0.15  
(0.014 ± 0.006)  
0.50 ± 0.25  
(0.020 ± 0.010)  
0.50 ± 0.25  
(0.020 ± 0.010)  
(t) erminal  
WVDC  
0.5  
1.0  
1.2  
1.5  
1.8  
2.2  
2.7  
±.±  
±.9  
4.7  
5.6  
6.8  
8.2  
10  
12  
15  
18  
22  
27  
±±  
±9  
47  
56  
68  
25  
A
A
A
A
A
A
A
A
A
A
A
A
A
A
A
A
A
A
A
A
A
A
A
A
A
A
50  
16  
C
C
C
C
C
C
C
C
C
C
C
C
C
C
C
C
C
C
C
C
C
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SIZE  
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PAPER  
EMBOSSED  
6
C0G (NP0) Dielectric  
Capacitance Range  
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SIZE  
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Soldering  
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Reflow Only  
Reflow Only  
Reflow Only  
Reflow Only  
Packaging  
Paper/Embossed  
All Embossed  
All Embossed  
All Embossed  
All Embossed  
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200  
Cap  
(pꢃ)  
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Cap  
(μꢃ)  
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SIZE  
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Letter  
Max.  
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(0.100)  
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7
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