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02015K680GBSTR 参数 Datasheet PDF下载

02015K680GBSTR图片预览
型号: 02015K680GBSTR
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内容描述: 薄膜技术 [Thin-Film Technology]
分类和应用:
文件页数/大小: 20 页 / 458 K
品牌: AVX [ AVX CORPORATION ]
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ACCU -F
®
/的Accu -P
®
环保/机械特性
环境特性
TEST
寿命(耐用性)
MIL- STD- 202F方法108A
加速湿热
热稳态
MIL- STD- 202F方法103B
温度循环
MIL- STD- 202F方法107E
MIL- STD- 883D方法1010.7
耐焊接热
IEC-68-2-58
条件
125°C , 2U
R
后,1000小时
需求
无可见损伤
C/C
对于C≥5pF 2 %
C
对于电容是0.25 pF C<5pF
无可见损伤
C/C
对于C≥5pF 2 %
C
对于电容是0.25 pF C<5pF
无可见损伤
C/C
对于C≥5pF 2 %
1
85 ℃, 85%RH ,U
R
后,1000小时
-55 ° C至+ 125°C , 15个循环 - 的Accu -P
®
-55 ° C至+ 125°C , 5个周期 - 的Accu -F
®
260 ℃±5 ℃下进行10秒
C
对于电容是0.25 pF C<5pF
Ç保持在初始限额
机械特性
TEST
可焊性
IEC-68-2-58
利奇电阻
IEC-68-2-58
附着
MIL- STD- 202F方法211A
终止粘结强度
IEC- 68-2-21修改。 2
条件
组件完全浸渍在
焊料浴中在235 ℃下进行2秒。
组件完全浸渍在
焊料浴中在260±5 ℃下进行60秒。
5N的力加10秒。
测试中所示图
D
需求
端子有良好的镀锡,最小值95%
复盖
终止面孔解散
≤15%
面积
终止解散边缘
≤25%
无可见损伤
无可见损伤
C/C
对于C≥5pF 2 %
C
对于电容是0.25 pF C<5pF
45mm
D = 3毫米的Accu -P
D = 1毫米的Accu -F
45mm
终止的稳健性
IEC- 68-2-21修改。 2
高频振动
MIL- STD- 202F方法201A ,
204D
(的Accu -P
®
只)
存储
5N的力加10秒。
55HZ至2000Hz , 20G
12个月用最少的组件
存储在“收到”包装
无可见损伤
无可见损伤
良好的可焊性
质量可靠性&
ACCU -P
®
基于公认的薄膜技术
和材料。
•在线过程控制
这个程序形成了生产周期的一个组成部分
并作为一个反馈系统来调节和控制
生产工艺。的测试程序,这是
集成在生产过程中,开发了
经过长期的研究工作,并基于所述高度
发达半导体行业测试程序和
设备。这些措施有助于AVX产生一个反面
sistent和高收益的产品线。
用直方图打印输出电容的平均
电容的分布;
IR和击穿电压分布;
温度系数;
可焊性;
尺寸,机械和温度稳定性。
质量保证
这些薄膜片状电容器的可靠性非常
几年来深入细致的研究。各项措施
已经采取了以获得高可靠性今日需
被业界。质量保证政策的基础是很好
建立国际行业标准。可靠性
电容器是通过加速试验来确定
在下列条件下:
寿命(耐用性)
125°C , 2U
R
后,1000小时
加速湿热
热稳态
85 ℃, 85%RH ,U
R
,
1000小时。
•最后的质量检验
完成部分测试标准电气参数
和视觉/机械特性。每批产品
在电容和防爆电压: 100%评价
2.5 U
R
。此外,生产周期评估:
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