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BH616UV1611TIP55 参数 Datasheet PDF下载

BH616UV1611TIP55图片预览
型号: BH616UV1611TIP55
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内容描述: 超低功耗/高速CMOS SRAM 1M X 16位/ 2M ×8位 [Ultra Low Power/High Speed CMOS SRAM 1M X 16 bit / 2M x 8-bit]
分类和应用: 静态存储器
文件页数/大小: 12 页 / 149 K
品牌: BSI [ BRILLIANCE SEMICONDUCTOR ]
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BH616UV1611
n
数据保持特性(T
A
= -40°C至+ 85°C )
符号
V
DR
I
CCDR
t
CDR
t
R
参数
V
CC
数据保留
O
O
测试条件
CE1≧V
CC
-0.2V或CE2 = 0.2V ,
V
IN
≧V
CC
-0.2V或V
IN
≦0.2V
CE1≧V
CC
-0.2V或CE2 = 0.2V ,
V
IN
≧V
CC
-0.2V或V
IN
≦0.2V
V
CC
=1.2V
分钟。
1.0
典型值。
(1)
--
马克斯。
--
单位
V
数据保持电流
芯片取消到数据
保留时间
--
1.5
15
uA
0
见保留波形
t
RC (2)
--
--
ns
手术恢复时间
--
--
ns
1.典型的特点是在T
A
=25
O
C和不是100 %测试。
2. t
RC
=读周期时间。
n
低V
CC
数据保存波形图( 1 ) ( CE1控制)
数据保持方式
V
CC
V
IH
V
CC
V
DR
≧1.0V
V
CC
t
CDR
CE1≧V
CC
- 0.2V
t
R
V
IH
CE1
n
低V
CC
数据保存波形图( 2 ) ( CE2控制)
数据保持方式
V
CC
V
DR
≧1.0V
V
CC
V
CC
t
CDR
t
R
CE2≦0.2V
CE2
V
IL
V
IL
n
AC测试条件
(测试负载和输入/输出参考)
输入脉冲电平
输入上升和下降时间
输入和输出时序
参考电平
t
CLZ1
, t
CLZ2
, t
BE
, t
OLZ
, t
CHZ1
,
t
CHZ2
, t
BDO
, t
OHZ
, t
WHZ
, t
OW
输出负载
OTHERS
V
CC
/ 0V
1V/ns
0.5Vcc
C
L
= 5pF的+ 1TTL
C
L
= 30pF的+ 1TTL
所有的输入脉冲
1 TTL
产量
C
L(1)
V
CC
GND
10%
90%
90%
10%
n
关键开关波形
波形
输入
必须是
稳定
可能改变
“H”
TO
“L”
可能改变
“L”
TO
“H”
不在乎
任何改变
许可
申请
输出
必须是
稳定
将改变
“H”
TO
“L”
将改变
“L”
TO
“H”
变化:
州UNKNOW
中心线
高Inpedance
“关”的
状态
→ ←
上升时间:
1V/ns
→ ←
下降时间:
1V/ns
1.包括夹具和范围电容。
R0201-BH616UV1611
5
修订版1.3
上柜。
2006