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BS616LV2016DIG70 参数 Datasheet PDF下载

BS616LV2016DIG70图片预览
型号: BS616LV2016DIG70
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内容描述: 超低功耗CMOS SRAM 128K ×16位 [Very Low Power CMOS SRAM 128K X 16 bit]
分类和应用: 静态存储器
文件页数/大小: 11 页 / 242 K
品牌: BSI [ BRILLIANCE SEMICONDUCTOR ]
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BS616LV2016
数据保持特性(T
A
= -40
O
C至+ 85
O
C)
符号
V
DR
I
CCDR
(3)
t
CDR
t
R
参数
V
CC
数据保留
数据保持电流
芯片取消到数据
保留时间
手术恢复时间
O
测试条件
CE = V
CC
-0.2V
V
IN
≧V
CC
-0.2V或V
IN
≦0.2V
CE = V
CC
-0.2V
V
IN
≧V
CC
-0.2V或V
IN
≦0.2V
分钟。
1.5
典型值。
(1)
--
马克斯。
--
单位
V
--
0.05
1.0
uA
0
见保留波形
t
RC
(2)
--
--
ns
--
--
ns
1. V
CC
= 1.5V ,T
A
= 25℃ ,而不是100 %测试。
2. t
RC
=读周期时间。
O
3. I
CCDR ( MAX 。 )
为0.5uA的在T
A
=70 C.
低V
CC
数据保存波形( CE控制)
数据保持方式
V
DR
≧1.5V
V
CC
V
CC
V
CC
t
CDR
V
IH
CE = V
CC
- 0.2V
t
R
V
IH
CE
AC测试条件
(测试负载和输入/输出参考)
输入脉冲电平
输入上升和下降时间
输入和输出时序
参考电平
输出负载
t
CLZ
, t
OLZ
, t
CHZ
, t
OHZ
, t
WHZ
OTHERS
VCC / 0V
1V/ns
0.5Vcc
C
L
= 5pF的+ 1TTL
C
L
= 30pF的+ 1TTL
所有的输入脉冲
1 TTL
产量
C
(1)
L
关键开关波形
波形
输入
必须是
稳定
可能改变
从“H”变为“L”
可能改变
从“ L”变为“ H”时
不在乎
任何改变
许可
申请
输出
必须是
稳定
将改变
从“H”变为“L”
将改变
从“ L”变为“ H”时
变化:
州UNKNOW
中心线
高Inpedance
“关”状态
V
CC
GND
10%
90%
90%
10%
→ ←
上升时间:
1V/ns
→ ←
下降时间:
1V/ns
1.包括夹具和范围电容。
R0201-BS616LV2016
4
调整
1.5
十月
2008