数据表
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6.可靠性
测试(1 )详细
测试项目
测试条件
Ta=-30C,
I
F
= 20mA下1000小时(以铝翅片)
连续运行测试
Ta=25C,
I
F
= 20mA下1000小时(以铝翅片)
Ta=85C,
I
F
= 20mA下1000小时(以铝翅片)
低温存储测试
Ta=-40C
后,1000小时
高温储存试验
Ta=100C,
千小时
防潮测试
热冲击试验
焊锡耐热性试验
Ta=60C,
90%RH后,1000小时
Ta=-40C
30minutes�½�100C 30minuets, 100cycle
推荐的温度分布(回流焊) ×2,
(第二测试必须启动后的试样进行热稳定化。 )
失败的( 2)可靠性测试判定标准
Ta=25C
符号
测量条件
对故障的判断标准
测量项目
I
F
=20mA
V
F
正向电压
> ú × 1.2
V
R
=5V
I
R
反向电流
> ú × 2.0
I
F
=20mA
发光强度
< S× 0.7
I
V
ü定义的规定的特性的上限值。 s定义为初始值。
*测量应取2个小时和24小时之间,并且试验片应
在完成每个测试后返回到正常的环境条件。
符号
名字
CITIZEN ELECTRONICS CO 。 , LTD 。 JAPAN
CL-824-MU1L2
CITILED
Ref.CE - P1046 04/11