HS- 0508RH ， HS- 0509RH
老化/寿命测试电路
V1
F0
F3
V1
D1
C1
5
6
R1
7
8
12
D2
11
10
9
R1
C2
6
7
8
11
10
9
1
2
3
4
16
15
14
13
V2
D1
C1
5
12
D2
C2
F1
F2
V2
1
2
3
4
16
15
14
13
V3
HS-0508RH
动态BURN -IN和寿命测试电路
V1 =
V2 =
R1 =
C1 =
D1 =
F0 =
F1 =
F2 =
F3 =
最大-15V ， -16V最低
+ 15V最小， + 16V最大
10kΩ
±5%
1/4W
C2 = 0.01μF最低（每插槽）或0.1μF最低（每行）
D2 = 1N4002 （或同等学历）
100kHz的50％的占空比; VIL = 0.8V最大值; VIH = 4.0V分钟。
F0/2
F1/2
F2/2
V1 =
V2 =
V3 =
R1 =
C1 =
D1 =
HS-0508RH
静态BURN- IN测试电路
最小5V ，6V最大
最大-15V ， -16V最低
+ 15V最小， + 16V最大
10kΩ
±5%
1/4W
C2 = 0.01μF最低（每插槽）或0.1μF最低（每行）
D2 = 1N4002 （或同等学历）
F0
F2
V3
D1
C1
1
2
3
4
5
6
7
8
16
15
14
13
F1
1
2
V2
V3
D1
C1
3
4
16
15
14
13
V1
V2
D1
C1
D1
12
11
10
9
R1
C1
5
6
7
8
12
11
10
9
R1
R1
R1
HS-0509RH
动态BURN -IN和寿命测试电路
V2 =
V3 =
R1 =
C1 =
D1 =
F0 =
+15.5V,
±.0.5V
-15.5V,
±0.5V
10kΩ,
±5%
0.1μF最低（每插槽）
1N4002或同等学历（每板）
100kHz,
±10%;
F1 = F0 / 2 ; F2 = F1 / 2 ，占空比为50％ ，
VIL = 0.8V最大值; VIH = 4.0V分钟。
V1 =
V2 =
V3 =
R1 =
C1 =
D1 =
HS-0509RH
静态BURN- IN测试电路
+5.5V,
±0.5V
+15.5V,
±0.5V
-15.5V,
±0.5V
10kΩ,
±10%
0.1μF最低（每插槽）
1N4002或同等学历（每板）
4
INTERSIL [ INTERSIL CORPORATION ]
