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MU9C16K64M-70B568C 参数 Datasheet PDF下载

MU9C16K64M-70B568C图片预览
型号: MU9C16K64M-70B568C
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内容描述: MU9C RCP家庭 [MU9C RCP Family]
分类和应用: 存储内存集成电路静态存储器双倍数据速率
文件页数/大小: 35 页 / 1040 K
品牌: MUSIC [ MUSIC SEMICONDUCTORS ]
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MU9C RCP家庭
引脚说明
/ FF (满标志,输出)
在/ FF输出指示,当所有的存储位置
曾其有效性位设置有效(低电平) 。当存在于
至少有一个位置,其有效性位设置为高, / FF
输出为高电平;当所有的位置都有自己的
有效位设置为低,中/ FI输入为低电平时, / FF
输出将是低电平。如果/ FI输入为高电平时, / FF
输出为高电平。在/ FF线的状态不会
变化,直到后/ E写在上升沿
周期。
/ RESET
在/ RESET输入用于将MU9C RCP复位到
已知状态。当/ RESET线被拉低它
导致MU9C RCP进入复位状态。上电后
被施加到MU9C RCP中,/ RESET线必须
保持低电平的时间等于或大于最小
复位脉冲宽度之前,该装置可以操作
正确。该引脚在内部上拉。
TCLK ( JTAG测试时钟输入)
该TCLK输入测试时钟输入。该引脚
内部上拉。
/ FI (全部输入,输入)
在/ FI输入接收来自下一个完整的信息
在垂直方向上的级联更高优先级的MU9C RCP
系统提供系统级的完整信息。当
/ FI输入为低电平时, / FF输出高电平,如果有在
至少一个位置,其有效位为无效;当
所有地点都有其有效性位设置有效,则/ FF
输出变为低电平。当/ FI输入为高电平时, / FF
产量仍将维持高位。从一个设备输出/ FF
被连接到下一个较低优先级的/ FI输入
设备得到系统满指示。的中/ FI销
优先级最高的设备必须连接到低电平。
TMS ( JTAG测试模式选择,输入)
TMS输入的测试模式选择输入。该引脚
内部上拉。
TDI ( JTAG测试数据输入,输入)
TDI输入的测试数据输入。该引脚在内部
拉。
TDO ( JTAG测试数据输出,输出)
该TCLK输出是测试数据输出。该引脚
内部上拉。
/ MM (多比赛,开漏输出)
的/ MM线表示有多个匹配
在系统内。当/ MI的输入是HIGH时, / MM
线被拉低,如果有内至少有两场比赛
该MU9C RCP如前面的比较的结果
周期;当有不到两年的比赛中, / MM线
浮高。当/ MI的输入为LOW时,/ MM的线是
低拉高,如果有内部的一个或多个匹配
MU9C RCP与先前的比较周期的结果;
如果没有匹配,则/ MM线悬空为高。
在/ MM线具有漏极开路输出,因此所有/ MM线
在系统内被连接在一起,得到
系统级的多重匹配指示。的状态
/ MM线将不会改变,直到之后的上升沿/ E
在一个比较周期。
/ TRST ( JTAG复位输入)
在/ TRST输入复位输入,以及用于重置
测试访问端口电路的复位状态。该引脚
内部上拉。
VDD , VDDIO , VSS (正电源,
地面)
这些引脚是主电源连接到
MU9C RCP 。 VDD和VDDIO必须在3.3伏特举行
和± 0.3伏特,相对于VSS引脚,这为0伏,
系统的基准电位,为正确操作
装置。
注意:
在TCLK , TMS , TDI ,TDO和/ TRST线定义
在IEEE标准测试访问端口和边界扫描
建筑IEEE标准。 1149.1-1990和IEEE标准。
1149.1a-1993.
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修订版8.04