Model No. GM2BB50BM0C
Doc. No. DG-097015D Page 10/ 24
3 信 頼 性 Reliability
製品の信頼性については、下記内容を満足するものとします。
The reliability of product shall satisfy the items listed below.
3.1 試験項目及び試験条件 Test items and test conditions
（信頼水準Confidence level：90 %）
供試数
Samples
n
故障数
Defective
C
試験項目
Test items
試 験 条 件
LTPD
（%）
No.
1
Test conditions
温度サイクル試験
Temperature cycle
-40 ℃(30 min) to +100 ℃(30 min),
22
22
0
0
10
10
100 cycles
高温高湿保存試験
Temperature humidity storage
2
Tstg = +60 ℃, RH = 90％, Time = 1 000 h
Tstg=+100℃, Time=1 000 h
高温保存試験
High temperature storage
3
22
0
10
低温保存試験
Low temperature storage
4
5
Tstg=-40℃, Time =1 000 h
22
22
0
0
10
10
室温連続動作寿命試験
Steady state operating life at
room temperature
Tc=+25 ℃, IF =240mA, Time = 1 000 h
高温動作寿命試験
Steady state operating life at
high temperature
6
7
8
22
22
22
0
0
0
10
10
10
Tc=+100 ℃, IF =150 mA, Time = 1 000 h
Tc=+60 ℃, RH=90%, IF =240 mA, Time = 500 h
Tc=-30 ℃, IF =240 mA, Time = 1 000 h
高温高湿動作寿命試験
Steady state operating life at
high temperature and elevated
humidity
低温動作寿命試験
Steady state operating life at
low temperature
加速度：15 000 m/s2, パルス幅0.5 ms,
Tc = +25 ℃
衝撃方向：X･Y･Z 方向
衝撃試験
Shock
9
11
0
20
回数：3 回
Acceleration: 15 000 m/s2, Pulse width: 0.5 ms,
Tc = +25 ℃
Direction: X, Y and Z, 3 trials in each direction
SHARP [ SHARP ELECTRIONIC COMPONENTS ]
