WM2614
串行接口
t
WL
SCLK
1
t
SUD
DIN
D15
t
SUCSFS
NCS
t
WHFS
FS
t
SUFSCLK
t
HD
D14
D13
D12
D1
D0
2
t
WH
3
4
5 15
16
生产数据1.0版
t
SUC16CS
t
SUC16FS
图1时序图
测试条件:
R
L
= 10kΩ的,C
L
= 100pF的。 AVDD = DVDD = 5V
±
10%, V
REF
= 2.048V和AVDD = DVDD = 3V
±
10%, V
REF
= 1.024V在推荐
工作自由空气的温度范围内(除非另有说明) 。
符号
t
SUCSFS
t
SUFSCLK
t
SUC16FS
测试条件
建立时间NCS低的负FS沿之前。
首次出现负SCLK上升沿之前设置时间FS低。
建立时间,之后FS低十六负SCLK边缘
上D0之前上升FS边缘采样。
建立时间,十六SCLK上升沿(第一个正
后D0采样)前NCS上升沿。
如果FS被用于第十六正边缘,而不是对
更新DAC ,然后设置时间的FS之间
上升沿和NCS的上升沿。
脉冲持续时间,SCLK高。
脉冲持续时间,SCLK低。
建立时间,数据准备SCLK下降沿之前。
保持时间后SCLK下降沿数据保持有效。
脉冲持续时间, FS高。
民
10
8
10
典型值
最大
单位
ns
ns
ns
t
SUC16CS
10
25
25
8
5
20
ns
ns
ns
ns
ns
ns
t
WHCLK
t
WLCLK
t
SUDCLK
t
HDCLK
t
WHFS
欧胜微电子有限公司
生产数据版本1.0月
1999
6